「LabVIEW」を使用した半導体テストプログラムの手引き・DC計測編
中堅エンジニア向けに、ものづくりの現場で役立つプログラミングの実践書をお届けします。 今回は、半導体のオープンショート・リークテストを行うプログラムの作り方です。 半導体メーカーのエンジニアを悩ませる、検査速度と検査精度。 装置メーカーと検査速度・検査精度についてもっと突っ込んだ議論を行いたい！自分たちでカスタマイズしたい！という方へお奨めです。 このテキストでは、現場でも採用されている計測器と本物のフォトカプラをつかって、DCテストプログラムをつくる方法をお伝えします。 半導体に関わる方は要チェックです！
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基本情報
本書は、「計測システムエンジニア育成プログラム エムセップ*注」プログラミングコース（全13巻）の9巻です。 編集・発行：株式会社ペリテック 初版発行日：2019年9月30日 ページ数：18P サイズ：A4判 *注 これからのものづくりで必要とされるシステムエンジニアを育成することを目的として開発された、4コース・42単元から成る教材・セミナー体系です。本書を購入された方には、対応するセミナーの1年間受講権が無償で付与されます。 【基本4コース】 ■プログラミングコース ■計測に必要な電気・電子の知識コース ■要件定義・設計コース ■コミュニケーションコース ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
価格情報
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納期
~ 1週間
用途／実績例
■工業高校・専門学校・理工系の大学等におけるシステムエンジニアリングの授業 ■省力化・自動化を検討しているメーカーでの新人研修・社員研修 ■個人での技術習得として
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企業情報
ペリテックはペリフェラル(周辺機器)とテクノロジーを社名の由来とし、T&M(計測システム、試験器）を独自に技術研究開発して、皆様にご提案しております。 皆様のペリフェラル(周辺機器)としてお役に立てれば幸いでございます。 ペリテックでは、計測・テストに特化したグラフィカルプログラム言語である『LabVIEW』を活用してT&M（計測システム・試験機）システムの技術研究開発・提案を行っています。 創業以来、多種多様な開発を行い、その数は4,000件以上にも上ります。RFIDテスター、ECUテスター、ICテスターなど、高性能・低価格・コンパクトなT&Mシステムを提供しています。 日本で唯一LabVIEWの開発元であるナショナルインスツルメンツ社（NI社）とパートナー企業の最上位にランクするプラチナアライアンスパートナーに認定されおり、NI社と強い信頼関係にあります。 これにより、お客様にベストな開発コンサルティングを行うことが可能です。 今後ともペリテックでは、多くのお客様のご発展を支援できるよう最新のLabVIEW技術を活かした包括的かつ高品質なソリューションをご提供し続けて行きます。
