1～3 件を表示 ／ 全 3 件
小型・軽量・高速・高機能！ヒューマンエラーを低減し、生産性を向上させます。
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
お客様のご要求へ柔軟に対応できる体制を整えています。
『ローコストソリューション』として、内製のLSIテスタ「E320シリーズ」 を用いた量産テストサービスをご提案しております。 コストパフォーマンスを追求した内製テスタを開発し、テストコストの 大幅削減を実現し、テストボードやアクセサリキットなども標準化しており、 テスト開発に伴う初期投資も抑えることができます。 また、テスタ・コンバージョンのための各種ツールをご用意。 他のテスタから「E320シリーズ」への移行もスムーズにおこなえます。 【特長】 ■高いコストパフォーマンス ■フレキシブルな技術サポート ■テストプログラム開発環境 ■テスタ・コンバージョン環境 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体後工程でのAC特性検査用テスター！製品のアバランシェ耐量の試験を実施可能
当社では、半導体テスターを取り扱っております。 半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、 負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。 製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
