更新日： 集計期間:2025年08月27日～2025年09月23日
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小型・軽量・高速・高機能！ヒューマンエラーを低減し、生産性を向上させます。
「オートマティックDCテスター ATS-3201」は、小信号ディスクリート製品の計測をする為に開発された半導体テスターです。 水銀を含むウェットリレーを一切使用せずトランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測します。 汎用DCテスターのヘッドボックスサイズに全機能を集約。設置場所を選ばず、様々な生産現場のレイアウトに対応します。 【特徴】 ○水銀レス ○トランジスター・ダイオード・MOS FETを高速で計測 ○高信頼性実現 ○HOST通信SEMI規格準抑/ハンドラ・プローバ接続 ○軽量・コンパクト 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。
お客様のご要求へ柔軟に対応できる体制を整えています。
『ローコストソリューション』として、内製のLSIテスタ「E320シリーズ」 を用いた量産テストサービスをご提案しております。 コストパフォーマンスを追求した内製テスタを開発し、テストコストの 大幅削減を実現し、テストボードやアクセサリキットなども標準化しており、 テスト開発に伴う初期投資も抑えることができます。 また、テスタ・コンバージョンのための各種ツールをご用意。 他のテスタから「E320シリーズ」への移行もスムーズにおこなえます。 【特長】 ■高いコストパフォーマンス ■フレキシブルな技術サポート ■テストプログラム開発環境 ■テスタ・コンバージョン環境 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
半導体後工程でのAC特性検査用テスター！製品のアバランシェ耐量の試験を実施可能
当社では、半導体テスターを取り扱っております。 半導体後工程でのAC特性検査用テスターで、 負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ。 製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが出来ます。 ご用命の際は、当社へお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■半導体後工程でのAC特性検査用テスター ■負荷を通じてMOSFET/バイポーラトランジスタ ■製品のアバランシェ耐量の試験を行うことが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。
協創をイノベーションに！半導体製造で蓄えた技術で多種多様なニーズに対応します
東洋電子工業は、半導体製造で蓄積した技術を駆使して、お客さまと 「協（とも）」に「創る」ことにフォーカスしたサービスを心を込めて ご提供するEMSのパートナーです。 マイコンを使った組込システム等のハードウェア・ソフトウェアニーズに 柔軟にお応え。 また、半導体のプロセス技術と生産性を統合化した取り組みや、 テスト技術と多様なカテゴリーのテスターラインアップを用いて、 様々なニーズに対応します。 【事業内容】 ■組込システムのハード＆ソフトウェア開発：システム開発センター ■組立事業：新潟工場、Toyo Electronics (Thailand) Co., Ltd、甲府工場 ■半導体テスト事業：甲府工場 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
