Siレベルの低電圧向けディスクリート向けのパワー半導体テスタ。16サイト同時にテストすることによりスループットを増加します。
CTT3280FはMOS、ダイオード等のディスクリートパワー半導体のテストに最適です。16サイトを同時に使用することによりスループットを上げることが可能です。対応電圧は1000V/10Aまで。テストプログラムはC言語で開発をすることが可能で、プログラムを用意に作成することが可能です。
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基本情報
● テストヘッド内に13枚のモジュールの搭載が可能 ● 1000V/10A、パラメータテスト用に16サイトを準備 ● 16個のデバイスを同時にテストすることが可能 ● 開発言語にC/C++を採用
価格帯
納期
用途／実績例
MOSFET、ダイオード、トリオードなどのパワー半導体に使用することが可能。電圧帯域は1000V/10Aまで。650V/700V帯域のパワー半導体やそれ以下の電圧帯域製品に最適です。
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この製品に関するニュース（1）
企業情報
2008年4月に中国、杭州に設立した半導体検査装置メーカー。ウェハープローバーからテスター、ハンドラーを開発設計し、大手半導体メーカーへ供給しています。2017年には、中国、深セン株式市場に上場を果たし、2017年、台湾事務所設立、2018年7月には日本事務所を設立、2019年にはシンガポールの外観検査装置メーカー、Semiconductor Technologies & Instruments Ptd Ltdを配下に置き、2020年9月にはサトウプロダクト（株）の半導体事業部門を吸収し、検査装置メーカーの市場へより良い検査装置をご提供しております。
