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産業用電気機器
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CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人

設立2008/8
資本金470000万
従業員数4000名
住所東京都品川区東五反田2-8-3 3F
電話03-5860-2386
  • 公式サイト
最終更新日:2025/01/28
CCTECH Japan株式会社ロゴ
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CCTECH Japanの企業情報

半導体検査装置、電子電気、機構部品、外観検査装置メーカー

2008年4月に中国、杭州に設立した半導体検査装置メーカー。ウェハープローバーからテスター、ハンドラーを開発設計し、大手半導体メーカーへ供給しています。2017年には、中国、深セン株式市場に上場を果たし、2017年、台湾事務所設立、2018年7月には日本事務所を設立、2019年にはシンガポールの外観検査装置メーカー、Semiconductor Technologies & Instruments Ptd Ltdを配下に置き、2020年9月にはサトウプロダクト(株)の半導体事業部門を吸収し、検査装置メーカーの市場へより良い検査装置をご提供しております。

事業内容

事業内容は主に ★半導体ウェハー上で検査するために必要なプローバー、テスター、ハンドラー ★モジュール検査用のデジタル検査装置 ★Wafer上の各ダイがムラなく均一に製造されているか確認できる外観装置。 ★Wafer上の前工程で異物やパーティクルなどを確認する外観装置 などをご提供しております。 製品は、既存で準備している製品から、お客様の要望に基づき、検査装置をカスタム開発することも行っており、スタートアップかつ、若手Engineerが多く活躍する非常に柔軟な対応のできる企業になります。新規工場設立の際の検査装置の導入から、既存ラインで、人的外観検査を行っている部分へ外観検査装置を導入することで、検査の精度を上げつつ、経費を削減できることを可能にします。現在人的に検査をしている作業を自動化させるための製品を提供しております。

おすすめ情報

製品・サービス (24)

半導体ICハンドラーの動向について 製品画像
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【お気軽にどうぞ!】資料無料進呈中!半導体ICテスターの選定方法 製品画像
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<薄膜金属加工製品向け>欠陥検査装置・欠陥部材除去装置 製品画像
<薄膜金属加工製品向け>欠陥検査装置・欠陥部材除去装置
Razer Kappar 金属加工製品 欠陥部材自動除去装置 製品画像
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 半導体ICハンドラーの動向について

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半導体ICテスター、検査装置の選定方法について

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DefectManagementSystem PrestKappar RazerKappar

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ロータリー式ハンドラ EXIS550/700

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ニュース(1)

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SEMICON Japan 2021 Hybridに出展

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弊社は、2021年12月15日(水)~12月17日(金)に東京ビッグサイトにて開催される「 SEMICON Japan 2021 Hybrid」に出展いたします。 中国に本社を構える半導体検査装置メーカー。 会社の設立は2008年に中国に設立。日本での拡販本格活動を2020年10月に開始。セミコンジャパンでの展示は今回が初めてとなります。 是非、ご来場ください。

2021年12月07日

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詳細情報

企業名 CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan(株)-  日本法人
従業員数4000名
連絡先〒141-0022 東京都品川区東五反田2-8-3 3F地図で見る TEL:03-5860-2386
業種 産業用電気機器
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