半導体マクロ検査装置 - 企業1社の製品一覧

半導体マクロ検査装置（iFocus)

半導体ウェハー検査機器、検査用カメラを２台使用し、タクトタイムを1/2に削減。3Dバンプの検査も可能。

特許取得のOTF(On the Fly)技術をを使用し、検査用カメラを２台使用し、明暗視野を同時に撮像することにより、検査工程に価格時間を1/2に短縮。また、３Dの検査も可能し、WLSCPパッケージ等に使用されるバンプのコプラナリティの検査を可能にします。

• 企業：CCTECH Japan株式会社 CCTECH Japan（株）- 　日本法人
• 価格：応相談

• 外観検査装置
• 半導体検査/試験装置
• テスタ