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原子間力顕微鏡(寸法測定) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり

原子間力顕微鏡の製品一覧

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原子間力顕微鏡

C-AFMやKFM、sMIMなどの測定モードで最大100mm角のサンプルに対応

導電性AFM、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応。 ■サンプルサイズ :最大100 mm角 ■ステージ移動距離 :100 mm ■XY走査範囲 : 100 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■Z走査範囲 : 9 μm (製造寸法公差 +/- 10%) ■XY走査分解能 : 24ビット制御 – 0.06 Angströms ■Z走査分解能 : 24ビット制御 – 0.006 Angströms ■ノイズレベル :Typ : <0.01 mV RMS

  • 外観検査装置
  • 原子間力顕微鏡

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低コスト&高イメージング品質 研究用原子間力顕微鏡(AFM)

価格を抑えつつ画質は妥協しない、研究室向けコストパフォーマンスAFM

価格を抑えつつ画質にこだわった原子間力顕微鏡です。 ・従来機の半額以下からご検討いただけるコストパフォーマンス ・トポグラフィに加え、位相・MFM・LFM・EFM測定にも対応(一部オプション) ・ばね吊り下げ構造の採用で、振動由来のノイズを低減 ・プローブ交換とレーザー位置合わせが簡単な設計 ・オートアプローチ機構で探針降下時のサンプル・プローブ損傷を防止 ・モーター駆動のステップ機構で狙った測定位置へ正確に移動 ・内蔵CCDでリアルタイムに観察位置を確認しながら調整可能 ・モジュール構成のため、保守対応や機能追加が容易 複数台導入でのスループット向上にも、これから導入するラボのファーストAFMにも適しています。

  • その他顕微鏡・マイクロスコープ
  • 原子間力顕微鏡

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