1～3 件を表示 ／ 全 3 件
プリント基板用通電検査機、自動/半自動による高周波検査が可能です（導通検査・絶縁検査・四端子検査・マイクロショート検出）
『TY-CHECKER DS401（AT）』は、従来のY方向ステップ＆リピート搬送に X方向移動（横移動）を追加した通電検査システムです。 テンションをかけない独自の専用プレート保持方式とテンション 保持方式の両方に対応し、製品に合わせて選択が可能です。 測定部を入れ替えれば、シートまたは個片での高周波特性検査ができ、 治具固定式のメリットを活かして安定した自動/半自動高周波検査を 実現します。 【特長】 ■XY方向へのステップ＆リピート搬送 ■治具ヘッドのサイズダウンに貢献（治具代低減） ■選べる製品保持方法 ■高周波特性検査対応 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。 ＃基板検査＃検査装置＃通電検査＃電気検査＃導通＃絶縁＃オープン＃ショート＃リーク＃四端子＃検査
高速・高精度検査で航空宇宙分野の信頼性を向上
航空宇宙業界では、製品の安全性と信頼性が最重要課題です。過酷な環境下で使用される電子機器の基板においては、微細な欠陥も見逃すことは許されません。導通不良や絶縁不良は、重大な事故につながる可能性があります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらのリスクを低減し、製品の信頼性向上に貢献します。 【活用シーン】 * 航空機、宇宙船、人工衛星などの電子基板検査 * 高信頼性が求められる電子機器の品質管理 * 製造工程における品質保証 【導入の効果】 * 検査時間の短縮 * 不良品の早期発見 * 製品の信頼性向上 * コスト削減
高速・高精度検査で半導体製造の歩留まり向上に貢献！
半導体業界では、製品の品質と信頼性を確保するために、基板の正確な検査が不可欠です。特に、微細化が進む中で、導通不良や絶縁不良、ショートなどの問題は、歩留まりを大きく低下させる要因となります。TY-CHECKER Type E テスターは、高速かつ高精度な検査により、これらの問題を早期に発見し、歩留まり向上に貢献します。 【活用シーン】 * 半導体基板の製造工程における検査 * FPC（フレキシブルプリント配線板）の検査 * パッケージ・モジュール系基板の検査 【導入の効果】 * 不良品の流出を防止し、歩留まりを向上 * 検査時間の短縮による生産性向上 * 多様な検査ニーズに対応可能
