事例で解説！外観検査システムの課題と限界
汎用の検査装置では検知できない微細で複雑な欠陥について、実際に当社が行ってきた事例を元に、具体的な検知技術をご紹介
・外観検査の背景と課題 市場伸長が見込まれる画像処理システム市場の現状と、 外観検査自動化のメリット、検査装置導入時・導入後の課題について、 纏めております。 ・微細化が進む電子回路基板のパターン検査課題 複雑化・微細化していき、検出が難しい電子回路基板のパターン欠陥について、当社で独自開発した検査手法をご紹介します。 ・複数光学条件が必要な外観検査自動化における課題 対象物に対して様々な欠陥検出が必要な検査において、複数照明条件を 利用するケースがございます。最新の照明装置を用いた検査技術をご紹介しております。 ・画像処理検査URCPのご紹介 画像処理検査URCPとは、ハードウェアとソフトウェアの両面から画像処理検査の【最適化】をご支援します。お客様のご要望に合わせて、画像処理検査装置をオールインワンでご提供いたします。 １．自社開発ソフトウェア※カスタマイズも可能 ２．各種欠陥に合わせた光学条件・機器を選定 ３．仕様に合わせた検査装置の設計・組立・納品
- 企業：株式会社宇部情報システム
- 価格：応相談
