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作業の効率化・コスト削減が可能！目視による点検・検査をAIが代わりに検知
「ベテラン作業員が頼り、点検・検査が属人化」「目視点検・検査は 時間と人的コストが掛かる」「専門家知識が無くAIを導入できない」などの お悩みを『TDSE Eye』がすべて解決します。 これまで人間に頼っていた目視による点検・検査をAIが代わりに検知。 作業の効率化・コスト削減が可能になります。 専門的な知識なしで導入・運用ができ、低コストかつ短期間で構築します。 【TDSE Eyeの特長】 ■先端のアルゴリズムを実装 ■設備の保守業務、製品の品質確認など目視作業による外観検査を効率化 ■AIモデルをクラウド上で構築することで、常に高性能なものが利用可能 ■WEBインターフェースによる簡単操作でAIを構築できる ■AIの推論をエッジにてオフライン実行 ■画像AI分野での豊富な実績 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
印刷ミスをAIが短期間・高精度で検出
印刷・製本業界では、製品の品質維持のために、印刷ミスや汚れの検出が重要視されます。 特に、インクの飛び散り、異物や傷などは、製品の価値を低下させる可能性があります。 これらの不具合を人の目だけで見つけるには、時間と労力がかかり、見落としのリスクも伴います。 AI外観検査ソリューションは、これらの課題に対し、AIを活用することで、短期間かつ高精度な検査を実現します。 活用シーン * シールやラベルの貼り付け不良検出 * 汚れや異物混入の検出 導入の効果 * 検査精度の向上と人的ミスの削減 * 検査工程の自動化による効率化 * 開発期間の短縮とコスト削減 * 品質基準の均一化
ウェハー検査の課題をAIで解決 短期間・高精度な外観検査を実現
半導体製造業界、特にウェハー検査においては、微細な欠陥や異物の検出精度が製品の品質に直結します。 限られた不良データから高精度な検査AIを短期間で構築することは、検査工程の効率化と品質向上において重要な課題です。 AI外観検査ソリューションは、疑似不良画像を生成することで、少量の不良品データからでも高精度な外観検査AIモデルを生成します。 これにより、不良品画像の収集にかかる時間と労力を大幅に削減し、迅速な外観検査システムの構築を支援します。 【活用シーン】 ・ウェハー上の微細なキズ、汚れ、異物検出 ・位置ずれや形状のばらつきの検出 ・検査工程の自動化と効率化 【導入の効果】 ・検査精度の向上と不良品の流出防止 ・検査工数の削減とコストダウン ・短期間でのAI検査システム導入
企業が抱えるAI開発の課題を当社の外観検査装置専用のAI開発ツール「RPipe-Image」で解決！
「RPipe-Image」はバラバラだったAIの開発環境の統一、豊富に揃えたAIモデル、機器との連携に特化したインターフェースで、高精度な外観検査AIを低コストでスピーディに開発する機能が揃っています。 【特徴】 ■常に最先端かつ豊富なAIアルゴリズムを搭載 ■統一されたフォーマットの設定ファイルで様々なタスクを実行可能 ■AIの各種パーツまで細やかに設定可能 ■高精度のパラメーターをデフォルトで設定 ■外部システムへの組み込みも外部システムからの操作も容易に実行 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくかお気軽にお問合せください。
AIエンジニアが抱えるAI開発の課題を当社の外観検査装置専用のAI開発ツール「RPipe-Image」で解決！
「RPipe-Image」はバラバラだったAIの開発環境の統一、豊富に揃えたAIモデル、機器との連携に特化したインターフェースで、高精度な外観検査AIを低コストでスピーディに開発する機能が揃っています。 【特徴】 ■常に最先端かつ豊富なAIアルゴリズムを搭載 ■統一されたフォーマットの設定ファイルで様々なタスクを実行可能 ■AIの各種パーツまで細やかに設定可能 ■高精度のパラメーターをデフォルトで設定 ■外部システムへの組み込みも外部システムからの操作も容易に実行 ※詳しくはPDF資料をダウンロードいただくかお気軽にお問合せください。
