ウェハー検査の課題をAIで解決 短期間・高精度な外観検査を実現
半導体製造業界、特にウェハー検査においては、微細な欠陥や異物の検出精度が製品の品質に直結します。 限られた不良データから高精度な検査AIを短期間で構築することは、検査工程の効率化と品質向上において重要な課題です。 AI外観検査ソリューションは、疑似不良画像を生成することで、少量の不良品データからでも高精度な外観検査AIモデルを生成します。 これにより、不良品画像の収集にかかる時間と労力を大幅に削減し、迅速な外観検査システムの構築を支援します。 【活用シーン】 ・ウェハー上の微細なキズ、汚れ、異物検出 ・位置ずれや形状のばらつきの検出 ・検査工程の自動化と効率化 【導入の効果】 ・検査精度の向上と不良品の流出防止 ・検査工数の削減とコストダウン ・短期間でのAI検査システム導入
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基本情報
【特長】 ・疑似不良画像生成機能により、少量の不良データからAIモデルを構築可能 ・AlliomVisionで生成した疑似画像は、様々なAI開発環境で使用可能(オプション機能) ・カメラからの画像取得、AIモデルによる検査、結果表示・保存を行う専用ソフトウェアを提供 ・ディープラーニングを活用し、形や位置が定まらない不良も検出 ・短期間で高精度な外観検査AIモデルを生成 【当社の強み】 当社は、製紙、自動車、半導体など、多岐にわたる業界でシステムインテグレーションの提案を行ってまいりました。 半導体分野における豊富な実績とノウハウを活かし、お客様のニーズに最適なソリューションをオーダーメイドでご提供します。 自動化システムの総合メーカーとして、お客様の生産性向上と品質向上に貢献いたします。
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企業情報
私たちはこれまで、製紙・パルプ・自動車・自動車部品・半導体・液晶・スマホ等、時代の流れに 敏感に対応しながら、お客様に最適なシステムインテグレーションの提案を行いたいとの思いを 持ち挑み続けてきました。 今後はこの考え方を継承しつつ、人々の生活に必要不可欠な「食品・医薬品・化粧品」の「三品業界」 にも積極参入を進めます。 また、半導体や高機能液晶といった成長が見込まれる分野では装置メーカーとして精密アライメント 露光装置・検査装置やプロセス製造装置の開発と製品作りにも積極的に関わっていきます。








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