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個性あふれる技術者集団！常により高いレベルの技術者を目指しています
株式会社ヒューブレインの社員はそれぞれ個性豊かで、常により高いレベルの技術者を目指しています。技術開発の仕事にはいつも試行錯誤が欠かせません。失敗を恐れず自由な発想で未知の分野にチャレンジできる環境を、大切に考えています。何ごとにもプラス思考を原則に実力・実績本位の評価システムを取り入れ、ひとりひとりのやる気を育てることが良い仕事に結びつくと信じています。私達はまだまだ小さな集団ですが、未来に向かって大きく羽ばたく夢をもって、力強く歩んで行きたいと思っています。 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
【2023年1月25日（水）～27日（金）】1台で個片検査とウエハ全体の官能検査が可能な装置など
株式会社ヒューブレインは、東京ビッグサイトで開催される 『第37回 エレクトロテスト ジャパン』に出展いたします。 ルールベースとAIのハイブリッド検査を行う「クラック検査装置（AI搭載）」や 「ウエハ検査装置」、「ラインカメラフォトメトリックステレオ」、 「ラインカメラ方式 3D検査装置」を出展予定。 皆さまのご来場を心よりお待ちしております。 【出展予定製品】 ■クラック検査装置（AI搭載） ■ウエハ検査装置 ■ラインカメラフォトメトリックステレオ ■ラインカメラ方式 3D検査装置 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
AIが不得意とされている寸法や面積計測などを補うハイレベルな自動化搬送技術を紹介！特徴量抽出例や適用事例など含む技術資料進呈！
当資料では、「AI×ルールベースのハイブリッド画像処理」について ハイレベルな自動化搬送技術に関する技術情報を掲載。 AIが不得意な処理やAIとルールベースの連携、形状の違いが特徴量の 差として表現できている事例などを詳しくご紹介。その他、ピン曲がりの 検出や個片位置認識といった例も画像と共に分かり易く解説しております。 【掲載内容(一部)】 ■例1：良品学習による薄い不良検出 ■例2：個片位置認識 ■例3：ピン曲がりの検出 ■特徴量抽出例：メッシュシート ■適用事例 ■AI×ルールベース(Hu-Dra)とは また、当社では東京ビッグサイトにて開催される「第39回ネプコンジャパン（東2ホール E15-32）」 に出展いたします。 ［展示予定製品］ ■自由角度多連 ■3Dセンサ ■HU-CUBE AI検査 ■1スキャン複数トリガ 皆様のご来場を心よりお待ちしております。 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
