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高精度なアナログ計測回路で試験サイクル初期からの微小変化の検出も可能！
『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタイミングが ずれる事もありません。 【特長】 ■最大50msec/CH の高速データ計測を実現 ■半導体リレー採用で計測精度を向上 ■専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減 ■マルチ電流源によるAC/DC 印加計測 ■モジュール構造で容易な保守性を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を高速、高精度に計測！
『RTm-100シリーズ』は、J-RAS株式会社製の多CH導通信頼性評価装置です。 回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を高速、高精度に計測します。 50m秒／CHのスキャン処理で多チャンネル計測でも高速サイクル試験に追従。 連動可能・CHスキャンの4端子網切替えには半導体リレーを採用し、 機械式リレー方式に対し大幅に長期信頼性を向上しました。 また、240CHまで増設可能な小型筐体は場所を選ばず設置でき、移動も簡単・ 熱電対を接続して温度データの表示・収録が可能（オプション）です。 【特長】 ■高精度・高速計測 ■50msec/CH の高速スキャン：高速ヒートショックチャンバーに追従 ■高精度＆低ノイズ：信頼性の高いデータアウトプット ■4端子計測ケーブル：ツイストペア／CH 別カラー仕上げ ■高い信頼性：機械式リレーを使わない ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
