高精度なアナログ計測回路で試験サイクル初期からの微小変化の検出も可能！
『RTm-100シリーズ』は、回路パターン、はんだ接合部等の導通抵抗を 高速、高精度に計測する装置です。 当シリーズの高性能計測回路はミリΩ未満の導通抵抗の変化を正確に とらえ、ヒートショックチャンバーと組み合わせ、温度サイクルに 連動したデータ計測が可能です。 更に、半導体リレーによる高速スキャン機能により、サイクル時間の 短い試験にも十分に追従し、各サイクルに対して計測のタイミングが ずれる事もありません。 【特長】 ■最大50msec/CH の高速データ計測を実現 ■半導体リレー採用で計測精度を向上 ■専用計測回路、専用ケーブルによりノイズ低減 ■マルチ電流源によるAC/DC 印加計測 ■モジュール構造で容易な保守性を実現 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【その他の特長】 ■装置の信頼性を高める自己診断機能搭載 ■全ての計測処理はMax240CHでも20秒未満で完了 ■専用設計の計測回路とレイアウトの最適化により ミリΩレベルの微小抵抗値を計測可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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【用途】 ■スルーホール、はんだ接合部、回路パターンの導通信頼性評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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