平面枚葉検査装置『PIE-650M』
高精度な欠陥検出を省スペースで実現。製品の品質向上、作業の効率化、省力化に貢献します
『PIE-650M』は、微細な欠陥から濃淡差の小さい欠陥まで高速、高精度に 検出することができる平面枚葉検査装置です。 搬送部はリニアモータによる搬送ロボットで、安定した搬送が可能。 異なる光学系の検査を一台で実現します。 フィルム、ガラス、金属箔、積層板、樹脂、銅板、鋼板、不織布、ゴム、 食品などの検査にご使用いただけます。 【特長】 ■多様な欠陥検出が一台で可能 ■対象物の大きさ、重さにとらわれないハンドリングを実現 ■微細な欠陥から濃淡差の小さい欠陥まで高速、高精度に検出 ■複数の欠陥をコンパクトなスペースで検査 ■優れた操作性 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：池上通信機株式会社 営業本部
- 価格：応相談
