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XAFSは、物質にX線を照射することで得られる吸収スペクトルを解析する手法です
・試料中の着目元素周囲の局所構造（原子間距離、配位数）や化学状態（価数、配位構造）の評価が可能 ・環境（高温・高圧・雰囲気）を問わず、測定が可能 ・様々な試料形態（固体・液体・気体、薄膜、非晶質物質など）の測定が可能 ・適用可能な濃度範囲が広い（主成分元素から微量元素まで） ・非破壊測定 ・測定方法によっては、バルクだけでなく、表面敏感な測定も可能
XAFSによる高精度解析
コーティング材料として幅広い分野で用いられているDLC（ダイヤモンドライクカーボン）膜はミクロな視点から見ると、ダイヤモンド構造に対応するsp3混成軌道有する炭素元素と、グラファイト構造に対応するsp2混成軌道を有する炭素元素が混ざり合って構成されています。 DLC膜の特性を決める一つの指標として、sp2/(sp2+sp3)比が挙げられます。XAFSによってDLC膜のsp2/(sp2+sp3)比の高精度定量化が可能です。
着目のガス雰囲気・温度条件下での測定が可能！触媒等、特殊な環境での状態評価が必要な場合に好適
弊団では、in-situ XAFSによるRuO2触媒の化学状態評価を 承っております。 試料周りの環境を着目に応じたガス雰囲気・温度に制御した条件下で、 試料の化学結合状態・局所原子構造が評価可能。そのため、触媒等、 特殊な環境での状態評価が必要な場合に適しています。 in-situ XAFSを用いてRuO2粉末を還元雰囲気下で室温から400℃まで 昇温させ、RuO2の状態変化を捉えた事例では、スペクトルの形状から、 100℃～200℃の間でRuO2がRuに還元されることが確認されました。 【測定法・加工法】 ■[XAFS]X線吸収微細構造 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
