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ジオメトリ・解析モデル作成、解析実行、ポスト処理等をひとつのソフトウェアで実現!!
【特徴】 ○プリ・ポストプロセッサ「Simcenter Femap」と解析ソルバ「Simcenter Nastran」を組み合わせた 構造解析ソリューション ○3D-CADで作成した形状データからの解析モデルの作成、解析、結果表示の 有限要素解析の一連の作業をひとつのソフトウェア、一台のPCで実現 ○高い操作性 ○導入しやすい価格設定 ◎より詳しい掲載内容につきましては、 カタログをご覧頂くか、直接お問い合わせください。
CrystalMaker と連携し、デバイス開発を加速
電子機器デバイスの開発において、材料の特性評価は製品の性能を左右する重要な要素です。CrystalMakerでシリコン、GaN、SiCなどの半導体や薄膜材料の結晶構造を可視化し、SingleCrystalで理論X線回折パターンを生成して実測データと照合することで、結晶方位・エピタキシャル成長の評価や欠陥解析が可能です。半導体デバイスや光電子部品の品質管理・開発に活用できます。 【活用シーン】 ・半導体デバイスの材料評価 ・薄膜デバイスの構造解析 ・電子部品の信頼性評価 【導入の効果】 ・材料特性の可視化による理解促進 ・デバイス設計の効率化 ・開発期間の短縮
リートベルト法で薄膜の粉末回折データを精密化
半導体薄膜の分野では、薄膜の構造解析が製品の品質と性能を左右する重要な要素です。CrystalMakerでシリコン、GaN、SiCなどの半導体薄膜の結晶構造を可視化し、CrystalDiffractで粉末・薄膜X線回折の理論パターンを生成して実測データと照合することで、結晶相同定・配向性・格子定数の評価が可能です。エピタキシャル成長の最適化やデバイス開発に活用できます。 【活用シーン】 ・薄膜の結晶構造解析 ・多層膜の構造評価 ・薄膜材料の組成分析 【導入の効果】 ・薄膜の構造に関する正確な情報が得られる ・デバイス設計の最適化 ・研究開発の効率化
