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欠陥検査装置開発×日本システムデザイン株式会社 - 企業1社の製品一覧

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【開発実績】カムシャフト表面欠陥検査装置の開発

非円筒形状に適した光学検出部の開発!15秒以内に8個のカムの表面検査が行えます

非円筒部品の一例として、自動車用カムシャフト表面の 微小鋳物巣の自動検査装置を開発しました。 傷検出精度は、0.1mm以上、検査時間は、センサー数に依存 しますが、15秒以内に8個のカムの表面検査が行えます。 当開発は、独立行政法人 産業技術総合研究所 中国センター様の 技術支援を受けました。 【技術開発のポイント】 ■非円筒形状に適した光学検出部の開発 ■レーザスポット光の反射光を2個の長尺PSDで全周受光 ■変動反射光量データからの傷判別アルゴリズムの開発 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 欠陥検査装置

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