【非破壊検査向け】UV光源装置『SUPERLITE I04』
蛍光探傷、磁粉探傷に適したUV光源装置
コンパクトかつ高出力。FPI（蛍光浸透探傷検査）に最適です。 ≪特長≫ ・コンパクト設計 ・白色光を含まない純粋な紫外線の照射 ・シンプルな切り替え方式（白色光／紫外線、ON/OFF) 内蔵したフィルターは、白色光を含まない純粋な紫外線を照射するため、非常に小さい内包物や傷も明確に見ることができます。 白色光のぎらつきによる不快感をなくすために、 自動アンチグレア機能が組み込まれています。
- 企業：ケイエルブイ株式会社
- 価格：応相談
