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脱離法評価装置 - メーカー・企業と製品の一覧

脱離法評価装置の製品一覧

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No.25 昇温脱離法によるCB、GCBの表面特性評価

【資料】脱離ガススペクトルをTCDもしくは四重極質量分析計を用いた評価を行いました!

当資料では、昇温脱離法によるCB、GCBの表面特性評価を紹介しています。 カーボンブラック表面の官能基やエッジの評価は、材料設計を行う上で 重要となり、酸素を含む表面官能基は特に重要で触媒性能、電気化学的性質 などに大きく影響しています。 そこで、昇温脱離法を用いて、GCB、NGCBを不活性ガス流通下で昇温・加熱し 表面含酸素官能基を分解・脱離したH2O、H2、CO、CO2を定量することで、 表面官能基の定量が可能となります。 測定にはBELCATIIを用い、それぞれ1g程度の各カーボンブラックを 50℃~1000℃までHeガス流通下で昇温脱離させ、脱離ガススペクトルを TCDもしくは四重極質量分析計を用いた評価を行いました。 【掲載内容】 ■GCBの昇温脱離スペクトル評価(TCD/Q-mass) ■NGCBの昇温脱離スペクトル評価(TCD/Q-mass) ■GCB、NGCBの昇温離脱スペクトルから得られた各分子数(面積当たり) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 受託測定

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