薄膜膜厚・ヤング率測定装置 SW3300 薄膜膜厚・ヤング率測定装置 非接触、非破壊でウェハー基板上の薄膜膜厚、膜のヤング率、 ポアソン比を測定することができる。 企業:日本セミラボ株式会社 新横浜本社 価格:応相談 その他検査機器・装置 ブックマークに追加いたしました ブックマーク一覧 ブックマークを削除いたしました ブックマーク一覧 これ以上ブックマークできません 会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます 無料会員登録