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蛍光X線分析装置(膜厚) - 企業1社の製品一覧

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蛍光X線分析器「X-RAY XAN215」

貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます!

「FISCHERSCPOE(R) X-RAY XAN(R)215」は、エネルギー分散型蛍光X線分析器です。 貴金属の組成分析やメッキ厚さの測定が非破壊で行えます。 対象元素はCl(17)からU(92)までで、24元素を同時に分析が行えます。 主な測定対象としては、ジュエリー・貴金属および歯科用合金、イエロー・ホワイトゴールドなどの金性、プラチナおよび銀、ロジウムメッキされた金や銀合金、合金組成および皮膜厚さ測定、多層の皮膜厚さ測定などです。 【特長】 ○優れた精度と長期安定性 →再校正にかかる時間と労力を節約できる ○最新のシリコンPin検出器が高い精度と検出感度を達成する ○フィッシャーのFP法は固体や液体に関わらず、  皮膜の厚さまで理論計算で分析が可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

  • 蛍光X線分析装置

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