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「試料埋め込み」や「研磨及びエッチィング処理」などの試験項目ごとに分析料金をご紹介！
株式会社ミツバ環境ソリューションは、環境測定、調査・解析、 ISOコンサルティングの専門企業です。 当資料では『表面分析』の料金について税抜き、税込みでご紹介。 試験法は「エネルギー分散XMA」や「EPMA」「オージェ電子分析（AES）」 などがございます。ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■金属組織形態観察など ■SEM ■破面解析（SEM観察の他別途請求） ■エネルギー分散XMA ■EPMA ■オージェ電子分析（AES） ■X線光電子分析（XPS） ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
有機成分を壊さず深さ方向分析が可能になりました！ 従来より空間分解能も向上し、狭い領域でも評価いたします。
有機ELディスプレイは近年、画質の高精細化のために配列が祖が微細化されていく傾向が見られています。 MSTでは、有機ELの開発において必須となる有機EL層の膜構造を精度よく評価可能な新サービスを開始しました。
無機物から有機物まで、高感度な表面分析ならお任せください！
TOF-SIMS分析では、試料の最表面を詳細に解析できるほか、 深さ方向の情報取得にも対応し、材料内部の成分分布の把握も可能です。 加えて、イメージングにより成分の空間分布を視覚化できます。 本資料では、様々な分野の製品を分析した事例を掲載しています。 お気軽にお問い合わせください！
![研究開発を加速する、[新]表面分析サービス開始！](https://image.mono.ipros.com/public/product/image/480/2001535453/IPROS2944828896955495055.jpg?w=280&h=280)
最表面だけでなく、30nmの深部まで ～表面と材料内部の化学状態を同一箇所・非破壊で定量評価！～
XPS/HAXPESによる新サービスを6月より開始しました！ 複雑化する材料や微細構造試料に対し、表面から材料内部（～30nm）までの組成・化学結合状態を、同一箇所・非破壊で評価できます。 ・着目の元素や分析対象領域・深さに応じてX線源（Al Kα/Mg Kα/Ga Kα/Cr Kα）を使い分け、適切な測定条件での評価を実現 ・大気非暴露測定、 Arモノマー/GCIBスパッタエッチング、加熱前処理の併用が可能 ・UPS/LEIPSによる半導体試料の電子状態評価（イオン化ポテンシャル/電子親和力/バンドギャップ）が可能
機能性材料やナノテク材料などの先端材料の課題解決をお手伝いします！
当社では、高性能の分析機器を用いた『表面分析サービス』を提供しております。 材料の表面や界面の情報を収集し、これらの知見を総合的に判断して 機能性材料やナノテク材料などの先端材料の抱える表面酸化、汚染、偏析 などの課題解決に貢献します。 【分析例】 ■ウエハ上の異物分析 ■半導体多層膜の膜構造の解明 ■傾斜切削による多層膜構造の解析 ■ウエハ表面の微量汚染物の分析 ■液晶多層膜の異常部の分析 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
