表面分析ガイド

様々な表面分析手法！異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します

当社は、様々な表面分析手法を用いて、異物、変色、汚染などのお困りごとの解決に向けてお役立て致します。微小領域からバルク試料まで幅広い分析が可能な「EDX」、電子線を照射しオージェ電子を検出する「AES」、絶縁物の分析や化学結合状態の分析が可能な「XPS」など、様々な表面分析を行っております。ご用命の際は、お気軽にお問い合わせください。【分析手法】 ■EDX(EDS)：エネルギー分散型X線分析 ■AES：オージェ電子分光分析 ■XPS(ESCA)：X線光電子分光分析 ■TOF-SIMS：飛行時間型二次イオン質量分析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。