L負荷試験装置
半導体検査装置や測定器の設計制作を得意とする当社におまかせ
当社では、安全動作領域(ASO)での高電圧・高電流を試料に印加して 破壊されるか否かをチェックするL負荷試験装置を取り扱っております。 試料(DUT)の負荷としてドレインにL(インダクタンス)を接続しておき、 入力ゲート電圧を制御してDUTをスイッチング。 DUTのスイッチングによってL負荷の両端に逆起電圧が発生し、 この時の電圧と電流によってDUTの耐量試験を行います。 【既製品ラインアップ】 ■FET-901 ■FET-902 ■FET-9205 ■EF-5002 ※詳細については、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：エルゴ電子株式会社
- 価格：応相談
