【テクニカルレポート】SEM観察による木材の変色原因調査
肉眼では捉えられない“原因”を SEMが可視化
SEM（走査型電子顕微鏡）による高倍率・高解像度の観察技術を用い、外観不良・汚染・変色といった一見判断が難しいトラブルでも肉眼では確認できない微細な粒子や付着物まで可視化することが可能となります。 SEM観察から、木製扉の変色原因が、カビなどの微生物が繁殖したことに起因するものと特定した事例をご紹介いたします。
- 企業：株式会社アサヒテクノリサーチ
- 価格：応相談
走査型電子顕微鏡(sem) - メーカー・企業と業務用製品 | イプロスものづくり
更新日： 集計期間:2026年09月16日～2026年10月13日
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走査型電子顕微鏡の製品一覧
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SEMの観察条件による見え方の違い
各種条件下で撮影したSEM像をご紹介！SEMの観察条件による見え方の違いについて解説
SEM観察は、試料表面に照射した電子が試料の極表層で散乱することで 発生する二次電子や反射電子を検出器で捉え、像としてモニターに 映し出しています。 電子を捉える検出器には種類があり、それぞれの特長を生かした像が 得られ、加速電圧を変えることで見え方も変わります。 当資料では、各種条件下で撮影したSEM像をご紹介。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■反射電子像 ・高加速電圧による反射電子像(AsB検出器) ・低加速電圧による反射電子像(EsB検出器) ■二次電子像 ・加速電圧による見え方の違い ・検出器の位置による見え方の違い ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
【分析事例】ウェハ上パーティクルの組成分析
SEM-EDXによる形状観察及び簡易定量分析
半導体ウェハ製造プロセスにおけるパーティクルの制御は、ウェハの品質を担保する上で非常に重要です。本事例では、Siウェハ上パーティクルのSEM観察及びEDX分析と簡易定量(※1)によって、パーティクルが何かを推定しました。サブミクロンの高い空間分解能を持ち、数cmの領域を走査できるSEM装置では、形状及び組成情報からウェハ上のパーティクルが何かを速やかに推測でき、発生工程を素早く特定することができます。欠陥検査装置の座標データとリンクした分析も可能です。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【技術資料】低真空SEM(接着界面の観察・評価)
真空蒸着などのコーティング処理を必要としない低真空SEMの観察・評価分析のご紹介！
当社では、分析ソリューション事業を行っています。 低真空SENでは、試料の前処理として真空蒸着などの コーティング処理(前処理)を必要としません。 絶縁体や半導体、食品などの試料でもコーティング処理なく 低真空SEM観察後は、そのまま他の分析に供することが可能です。 【掲載内容】 ■概要 ■分析事例 ・接着界面の観察・評価 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：日鉄環境株式会社 水ソリューション事業本部・分析事業部
- 価格：応相談
【分析事例】SEMによる極低加速電圧条件での微細構造観察
極低加速SEM観察によるセパレータ構造評価
リチウムイオン二次電池に使われているセパレータに代表されるように、材料の多孔性や形状といった微細構造は製品の特性や機能を左右します。材料が樹脂やポリプロピレン(PP)など軟化点が低い場合、観察時の電子線照射により試料が損傷を受け、本来の構造が変化してしまうことがあります。 加速電圧0.1kVという極低加速SEM観察により、変質を抑えて試料最表面の形状を詳細に評価した事例をご紹介します。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
FE-SEM観察（Alワイヤボンディング部結晶粒観察）
⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像！表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備
ZEISS製の「FE-SEM ULTRA55」は、GEMINIカラムを搭載しており、 極低加速電圧で高分解能観察が可能な装置です。 検出器も複数搭載されており、さまざまなサンプルの観察が可能。 2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握ができ、低加速電圧でも ⾼分解能なEDX分析ができます。 【特長】 ■⾼輝度電⼦銃による緻密なSEM画像 ■極低加速電圧による極表⾯分析 ■表⾯情報に敏感なインレンズSE検出器を装備 ■2種類の反射電⼦検出器による組成情報の把握 ■低加速電圧でも⾼分解能なEDX分析 ■無蒸着による観察 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社アイテス
- 価格：応相談
『走査型電子顕微鏡（SEM）観察』
難電導性試料の無蒸着観察可能！繊維等の表面観察に最適な走査型電子顕微鏡検査
『走査型電子顕微鏡（SEM）』は、細く絞った電子線を試料に照射、走査し、 二次電子や反射電子を検出してその強度をモニター上に映像として表示する ことによって対象物の拡大像などを得る装置ですです。 像質が落ちるため高倍率観察には向きませんが、低真空モードを使い、 難電導性試料の無蒸着観察も可能です。 【観察項目】 ■5～300,000 倍での表面観察 ■附属装置のエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）による元素分析（B～U） ■微小領域の元素同定（定性分析・半定量分析） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：コベルコ溶接テクノ株式会社
- 価格：応相談
【分析事例】固体高分子燃料電池触媒材料の形態観察・成分分析
SEM・STEM・EDXによる触媒粒子の評価
燃料電池の電極は、カーボンに触媒であるPt粒子またはPt合金（PtRu等)粒子が担持されています。この触媒粒子は数nmと微細構造のため、形態観察、組成分析にはSEMやTEM分析が用いられています。 初期状態での評価の他に通電後の劣化として合金組成の変調、Ruの溶出、触媒粒子径の増大が報告されていますが、これらの評価に高空間分解能でのHAADF観察やEDX分析が非常に有効です。また、SEM観察では担体のカーボンの形状や触媒粒子の存在状態を確認することができます。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【FE-SEM/EBSDなど】断面観察や構造解析に関する事例集2
微小部断面加工と分析、残留応力測定などイオンミリング、FE-SEM、EBSD等による各種事例をご紹介します。資料DL可です。
当事例集では、『断面観察及び構造解析』にかかる事例についてご紹介します。 「EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価」の分析事例をはじめ、 「イオンミリングによる微小部断面加工」の目的や手法、試料と結果、 「はんだ断面の残留応力測定」の目的や手法、結果など多数掲載。 他にも、配向評価や断面観察結果、測定などご紹介しています。 ぜひ、ご一読ください。 【掲載内容】 ■EBSDを用いたアルミスパッタ膜の評価 ■イオンミリングによる微小部断面加工 ■はんだ断面の残留応力測定 ■線材の残留応力測定 ■冷却（クライオ）イオンミリング断面加工 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：セイコーフューチャークリエーション株式会社
- 価格：応相談
『FE-SEM（EDS/EBSD付）観察』
細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：コベルコ溶接テクノ株式会社
- 価格：応相談
【導入事例】高分解能観察と分析機能の両立を実現したFE-SEM
最大200nAの照射電流は、各種マイクロアナリシスに対応！分析能力も強化
広視野全体像から表面微細構造まで、短い時間で多くの情報を取得できる 「FE-SEM」を導入した事例をご紹介いたします。 表面微細構造、組成、結晶学的情報、形状情報など多彩な イメージング能力を装備。 複数の二次電子信号や反射電子信号が同時に取得でき、これまでより 短い時間で多くの情報を得られるようになりました。 【事例概要(抜粋)】 ■導入製品：HITACHI製SU7000 ・電子源：ZrO/Wショットキータイプエミッター ・二次電子分解能：0.8nm(加速電圧 15kV)、0.9 nm(加速電圧 1kV) ・加速電圧：0.1～30kV ・倍率：20～2,000,000倍(装置スペック) ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：株式会社クオルテック
- 価格：応相談
【分析事例】バッテリー正極材の活物質抽出およびデータ解析
深層学習×データ解析によりSEM像から活物質の粒径を求めました
深層学習により、画像から目的の対象物を抽出することが可能です。また、得られた対象ごとに領域を解析することで数値として情報を得ることができます。 今回、バッテリー正極材の断面SEM像に対して、深層学習を用いて活物質粒子の抽出、クラックの検出をしました。Slice&Viewデータのような3Dデータに対しても同様に抽出が可能です。3Dデータからクラック有、クラック無粒子を抽出し、それぞれの粒径を算出しました。 測定法：SEM、Slice&View、計算科学・AI・データ解析 製品分野：太陽電池、二次電池、燃料電池 分析目的：構造評価、形状評価、故障解析・不良解析 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面観察
走査型電子顕微鏡（SEM） ■業界：自動車（試作）／半導体／ロボット
単結晶ダイヤモンドチップの刃先表面を走査型電子顕微鏡（SEM）で観察しました。 PCD（ダイヤモンド焼結体）の刃先表面も観察し、比較しました。 表面の微細な凹凸の違いがはっきりと確認できました。 この違いが加工にどのように影響するか。 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：大羽精研株式会社
- 価格：応相談
JIB-PS500i FIB-SEMシステム
試料作製、観察、分析の先端技術
日本電子株式会社 JIB-PS500iは、TEM試料作製をアシストする3つのソリューションを提供します。 試料作製からTEM観察まで、確実かつ高スループットなワークフローで作業することができます。 〇特長 ・二軸傾斜カートリッジとTEM ホルダーによりTEM ⇔ FIBのリンクを容易に ・カートリッジは専用のTEM 試料ホルダーにワンタッチで装着可能 ・正確かつ迅速にピックアップ作業可能 ・TEM 試料作製からシームレスにSTEM観察に移行 ・自動TEM試料作製システムSTEMPLING2により、TEM試料作製を自動化 ※詳細はPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：アズサイエンス株式会社 松本本社
- 価格：応相談
【分析事例】消毒前後における不織布マスクの表面形状観察
アルコール消毒前後でマスク表面の形状を比較
ウイルスによる感染症予防のためマスク使用の頻度があがっています。しかしながらその使用方法や耐性についての根拠となる構造的なデータは乏しい状況です。本資料では、アルコール消毒前後のマスク表面の繊維をSEMで観察した結果を紹介します。アルコール消毒後では、繊維の形状が変化し、また消毒前の特徴的な凸形状が少なくなっていることがわかりました。 測定法： SEM 製品分野：日用品、ウイルス対策関連品 分析目的：形状評価、構造評価、劣化調査・信頼性評価、製品調査 詳しくは資料をダウンロード、またはお問い合わせください。
- 企業：一般財団法人材料科学技術振興財団 MST
- 価格：応相談
【課題解決事例】ユニットクーラーから「黒い異物」が飛散した事例
ユニットクーラーから「黒い異物」が飛散！トラブルが無事解決した事例のご紹介
工場のユニットクーラーから「黒色の異物」が飛散しているので調べてほしいとの依頼をいただきました。 【事例】 ■課題 ・ユニットクーラーから「黒色の異物」が飛散しているので調べてほしい ■解決策 ・「走査型電子顕微鏡～エネルギー分散型X線（SEM-EDX）」で元素分析 ・「フーリエ変換赤外分光法」による有機物の分析、異物の表面と切断面を比較
- 企業：日本水処理工業株式会社 本社
- 価格：応相談
『損傷解析』設備トラブル約3000件の解析実績！
設備で発生したトラブルの真の原因を究明することで、効果的な対策立案が可能となります！
設備トラブルで損傷した部位を詳細に解析することで、発生したトラブルの真の原因を究明し、対策を提案して再発防止や改善に役立てていただけます。東レグループでの４０年以上の経験と専門知識をベースに電子顕微鏡や成分分析装置など各種ツールを駆使してお客様の疑問にお答えします。 【解析装置例】 ■走査型電子顕微鏡（SEM） ■エネルギー分散型X線分析装置（EDS） ■硬度計 ■各種光学顕微鏡 等
- 企業：東レエンジニアリング中部株式会社
- 価格：応相談
電子顕微鏡での受託観察
走査型電子顕微鏡（ＦＥ-ＳＥＭ）による表面観察を受託いたします：分解能（感度等）：～２０万倍
■試料をお送り頂きますと、試料台作成～画像撮影～画像ファイル（jpeg）変換を行い、お送り致します。 ■格安料金を設定しておりますので、ぜひご利用下さい。
[マーケットレポート］走査型電子顕微鏡の世界市場
走査型電子顕微鏡の世界市場は科学的発見を開拓し、顕著な成長が見込まれる
走査型電子顕微鏡（SEM）の世界市場は科学的探求の最前線にあり、2022年には約38億3000万米ドルの収益を達成した。業界の専門家は、この市場が2031年までに78億4,000万米ドルの売上を達成すると予測している。この予測は、2023年から2031年までの予測期間中に8.3%の複合年間成長率（CAGR）を達成することを意味する。 走査型電子顕微鏡は、ミクロの世界を覗く窓のような存在であり、肉眼では見えない構造や材料の複雑な詳細を明らかにする。基礎研究から先端産業アプリケーションまで、SEMは科学者、エンジニア、研究者が極小の謎を解明するために不可欠なツールである。 応募方法は[PDFダウンロード]ボタンからご確認いただくか、関連リンクから直接ご応募ください。
- 企業：Panorama Data Insights Ltd.
- 価格：応相談
