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難電導性試料の無蒸着観察可能！繊維等の表面観察に最適な走査型電子顕微鏡検査
『走査型電子顕微鏡（SEM）』は、細く絞った電子線を試料に照射、走査し、 二次電子や反射電子を検出してその強度をモニター上に映像として表示する ことによって対象物の拡大像などを得る装置ですです。 像質が落ちるため高倍率観察には向きませんが、低真空モードを使い、 難電導性試料の無蒸着観察も可能です。 【観察項目】 ■5～300,000 倍での表面観察 ■附属装置のエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）による元素分析（B～U） ■微小領域の元素同定（定性分析・半定量分析） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
FE電子銃でさらに美しく！フロアモデルに迫る高分解能を卓上SEMで実現
当社が取り扱う、卓上走査型電子顕微鏡『Phenom Pharos』を ご紹介いたします。 ナノ～サブミクロンレベルの解析を実現。 誰でも簡単、スピーディに高分解能観察ができます。 また、3Dや粒子、細孔などを測ることも可能です。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■FE電子銃搭載 ■誰でも簡単、スピーディに高分解能観察 ■観察＋α(3D、粒子、細孔、繊維) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
圧倒的な美しさを大画面で！試料ホルダはスライド式で簡単に装置にセット可能
当社が取り扱う、卓上走査型電子顕微鏡『Phenom ProX』を ご紹介いたします。 高輝度・長寿命のCeB6電子銃を搭載。試料導入から僅か30秒で SEM像表示し、そのままバリアフリーで分析できます。 また、振動に強く、どこでも分解能6nmです。 ご要望の際は、お気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■高輝度・長寿命のCeB6電子銃搭載 ■圧倒的な美しさを大画面で ■振動に強くどこでも分解能6nm ■革新的なユーザーインターフェース ■30秒でSEM像表示、3分で分析終了 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
細く絞った電子線を試料に照射！結晶方位や結晶構造の解析もできる電子顕微鏡！
『FE-SEM（電界放射電子銃式走査型電子顕微鏡）』は、汎用SEMよりも更に細く 絞った電子線を試料に照射、走査することによって、より鮮明な拡大像などが 得られる装置です。 また、細く絞った強い電子ビームを利用して結晶方位解析法（Electron Back-Scatter Diffraction；略してEBSD）を用いると、結晶方位や結晶構造の解析を行うことも できます。 【適用対象】 ■金属材料全般 ■セラミックス ■繊維（蒸着処理必要） ※詳しくはカタログをご覧頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
