水浸法超音波探傷試験システム
当社独自の、リアルタイムBスキャン、Cマップ、エンコーダーによる位置情報
当社の自社開発による水浸法超音波探傷試験システムは、アンプを 二つ用いることにより内外面の探傷感度を個別に設定できます。 また、通常プローブ引抜速度を速くすると粗い探傷になりますが、 パルス繰返し周波数（30khzオーバー）の設定により、インチサイズ 以下の管については、速く引き抜いても高い精度の探傷が可能です。 探傷速度は当社比で2～4倍になります。 【当社IRISの特長】 ■DUALアンプ ■高速スキャン ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。
- 企業：日本シーレーク株式会社
- 価格：応相談
