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透過電子顕微鏡×株式会社イオンテクノセンター - 企業1社の製品一覧

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微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)

物理分析を行う装置を揃え、立会い分析も可能な受託分析サービスを行っています

主な装置は「HR-TEM」「Q-pole型SIMS」「μESCA」「RAMAN」など。ミクロ・ナノレベルの表面分析におけるノウハウの蓄積があり、信頼性の高いデータを短期間で提供することができます。また未知試料の分析についてもアドバイスします。 【微少領域形態観察 透過電子顕微鏡(HR-TEM)】 ○高速電子線を薄く加工された試料に照射し、透過および散乱する電子の結像により拡大像や結晶構造の情報を提供する手法。 ○薄膜の構造、結晶性の評価に適している。また高分解能観察により結晶構造の観察が可能。 ●詳しくはカタログをダウンロード、もしくはお問い合わせください。

  • 食品試験/分析/測定機器

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