HF帯 量産向けRFIDテスター「T8200Shannon」
非接触ICカード、RFIDタグの共振周波数を最大32CHで高速に同時測定する検査装置です。
量産を意識した、ICカード・タグの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。 同時測定数は2～32CH、一回の測定に必要な時間は、わずか0.15秒。 量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、 プレラミインレイやIC実装前のRFIDアンテナなど多面付けシート製品の全数検査に最適です。 さらに品質の安定したICカード・タグの出荷をサポートします。 検査ヘッドは測定対象のコイルデザインに合わせて特注製作のリクエストにも対応します。 コンパクト設計で、チップ実装機など生産装置への組込みも可能です。 生産ラインに組み込む際には、1CHから32CHのPASS/FAIL判定をI/Oにて出力できます。
- 企業：株式会社テストラム
- 価格：応相談
