非接触ICカード、RFIDタグの共振周波数を最大32CHで高速に同時測定する検査装置です。
量産を意識した、ICカード・タグの共振周波数とQ値を測定する検査装置です。 同時測定数は2～32CH、一回の測定に必要な時間は、わずか0.15秒。 量産現場で求められる、高いスループットとコストパフォーマンスを実現し、 プレラミインレイやIC実装前のRFIDアンテナなど多面付けシート製品の全数検査に最適です。 さらに品質の安定したICカード・タグの出荷をサポートします。 検査ヘッドは測定対象のコイルデザインに合わせて特注製作のリクエストにも対応します。 コンパクト設計で、チップ実装機など生産装置への組込みも可能です。 生産ラインに組み込む際には、1CHから32CHのPASS/FAIL判定をI/Oにて出力できます。
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基本情報
【基本機能】 ・検査項目 - 共振周波数、減衰量、Ｑ値 ・周波数設定範囲数 - 1MHz～100MHz ・同時測定数 - 2CH～32CH（2CH/検査ボード） ・検査時間 - 150msec（測定ポイント数=500、平均化数４回） 【システム構成】 ・本体 / 検査ヘッド / 同軸ケーブル / アプリケーションソフト / 5V電源 【システム要件】 ・PC - Windows10,11 ・I/F - USB2.0以上
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企業情報
私達テストラムはこの半導体産業において重要な役割を果たすテストシステムの分野で、独自の製品開発/販売を続けてまいりました。創業以来、常識や因習に固執することなく、自由闊達に技術・意見交換が行える若い社風をモットーとし、刻々と変化し続ける開発の現場で求められているものは何か、これから先求められるであろうテスターの資質とは何かを先取りする姿勢を固持。技術と、独創性においては他よりも一歩も二歩もリードするアドバンテージを主張し、創業から僅か数年で着実に信頼と、実績を築き上げてまいりました。 常に環境の変化に敏感であり、あらゆる可能性に挑むことを恐れない。新しい技術情報に耳を傾けることを怠らず、我々が得意とする分野に全社の総力を投入する。自分達の夢を信じ、可能性を語り合った創業当時からの熱意と、チャレンジャー精神を変わることのない伝統として受け継ぎ、私達はこれからも着実に時代を支える技術成果を世に送り出してまいります。