集束イオンビーム装置×株式会社巴川コーポレーション - メーカー・企業と製品の一覧

微小異物の断面観察

高度なサンプル加工により微小混入異物等の鮮明なSEM写真や元素分析が得意です！

　FIB（集束イオンビーム） は細く集束したGaイオンビームを試料表面に照射し走査することで試料表面の加工を行います。 　FIBは狙いたい所の微細加工が可能で、数ミクロン程の微小な領域でも狙って断面化できます。 　

• 企業：株式会社巴川コーポレーション
• 価格：応相談

• 受託解析
• 受託測定
• 受託検査