非接触膜厚計『FF8』※カスタム仕様等の対応可能！
測定データはファイル保存ができ、あとから再解析も可能な非接触膜厚測定システム！
『FF8』は、サンプルの反射率（干渉波形）を測定し、 膜厚演算方法の中のFFT（フ－リエ変換膜厚計）や、 カーブフィット膜厚計等によって 膜厚値の解析を行う非接触膜厚測定システムです。 膜厚測定の他にフィルム、硝子の厚さ、屈折率の測定も行うことができ、 オプションにより、多層膜・カーブフィット法・顕微鏡・マッピング測定・ 色測定・成分濃度解析も可能です。 【標準測定】 測定範囲（分解能） 対応仕様例 0.0010～100μｍ 薄膜＋薄膜解析仕様 0.0100～100μm 標準＋薄膜解析仕様 0.5000～500μm 標準仕様 1.000 ～500μm 圧膜1仕様 4.000 ～2000μm 圧膜2仕様 ※その他、各種測定範囲にオプションで対応可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。
- 企業：株式会社システムロード
- 価格：応相談
