走査電子顕微鏡-X線分析
試料の表面や断面の観察、X線分析による元素分析やマッピングが行えます。
走査電子顕微鏡（Scanning Electron Microscope;SEM）は物質に入射した電子線がその構成原子と相互作用した結果、その表面から放出された二次電子や反射電子を用いて表面構造を拡大観察する装置で、高分子材料の観察に広く用いられています。また、今回更新したSEMにはエネルギー分散型Ｘ線分析装置（EDS）も組み込まれており、SEM観察画面のあるポイントの元素分析（ホウ素（B）～ウラン（U）や、元素マッピングが行えます。
- 企業：株式会社ＤＪＫ
- 価格：応相談
