高精度分散度解析装置『DisperGRADER αview』
先進技術を採用する事により根本的な光学分散解析方法を進化させました
当社では、より進化した光学分散度解析技術により、優れた再現性と 低機器間誤差を実現する高精度分散度解析装置『DisperGRADER αview』を 取り扱っております。 混合ゴムコンパウンド中のカーボンブラックの分散度試験用に設計された 反射光式分散度測定装置で、このシステムでは新しいサンプルの切削表面の 集塊岩の影を解析します。 【特長】 ■オートフォーカスにより、迅速で、一貫した分析 ■1回のサンプル装着で多数のデータポイント取得 ■高精度なレール上をカメラが水平に移動 ■4か所に配置されたLED光学システム ■自動及び手動のスキャンニング機能 など ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お問い合わせください。
- 企業：東京材料株式会社
- 価格：応相談
