解析装置のメーカーや取扱い企業、製品情報、参考価格、ランキングをまとめています。
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解析装置 - メーカー・企業86社の製品一覧とランキング | イプロスものづくり

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解析装置のメーカー・企業ランキング

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  1. 株式会社アイテス 滋賀県/電子部品・半導体
  2. DKSHマーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社 テクノロジー事業部門 東京都/商社・卸売り
  3. ゼロシーセブン株式会社 東京都/試験・分析・測定
  4. 4 緑屋電気株式会社 東京都/試験・分析・測定
  5. 5 株式会社クオルテック 大阪府/サービス業

解析装置の製品ランキング

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  1. アイテス 装置一覧 株式会社アイテス
  2. Quarch 会社紹介 緑屋電気株式会社
  3. フローイメージング粒子画像解析装置 FlowCamシリーズ DKSHマーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社 テクノロジー事業部門
  4. ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView x30 DKSHマーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社 テクノロジー事業部門
  5. 4 ロックイン発熱解析装置『ELITE』 株式会社クオルテック

解析装置の製品一覧

1~30 件を表示 / 全 141 件

表示件数

協和界面科学株式会社 解析装置 総合カタログ

ウェットプロセスコーティングに界面現象の解析・最適化をサポートする装置の総合カタログ プレゼント!

接触角計・表面張力計・摩擦摩耗計・ゼータ電位計・粘着皮膜剥離解析装置などウェットプロセスコーティングに界面現象の解析・最適化をサポートする装置の総合カタログを無料でダウンロードできます。

  • その他環境分析機器
  • 解析装置

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スキャナ型画像解析装置『SC-3000S』

様々な試料の測定に応用可能!様々なサイズパラメータや形状パラメータで数値化

当社が取り扱う、スキャナ型画像解析装置『SC-3000S』を ご紹介いたします。 パンやスポンジ表面の穴の大きさや形状、お茶の茎の長さや幅、 タイル表面の粒状の模様の大きさや形状など様々な試料の測定に応用可能。 多彩なグラフ表示でサイズや形状の特長を見ることができます。 また、白色の粒子の画像を取り込むための黒色カバーや、 液中に沈澱する粒子の画像を取り込むための湿式分散ボックスを オプションで追加することが可能です。 【特長】 ■様々な試料のサイズと形状の測定に応用が可能 ■様々なサイズパラメータや形状パラメータで数値化して分布を表示 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • スキャナ
  • 解析装置

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資料プレゼント!2カメラ光学系の粒子画像解析

【期間限定】用途例の資料プレゼント! CAMSIZER X2は粒子径分布と粒子形状の評価が一度の測定で可能な装置です。

この度、キャンペーン期間(2021/05/23)まで、「データ集CAMSIZER PART III 『”動的画像解析だから解る”マイクロメートルの世界』」をダウンロード頂けます!ぜひご覧ください。 セラミックス粒子の“粒子径分布”・“粒子形状”を精度良く測定することで、その加工特性・流動性・圧縮性・搬送特性を最適化します。 セラミックス原材料の基本特性(粒子径分布・粒子形状・比表面積など)評価は、その加工品の性能に大きく影響を及ぼすため必要不可欠です。 特に、粒子径分布と粒子形状を効率よく評価する需要が高まっています。 【特長】 ■2カメラ光学系により、幅広い測定範囲をレンズ切り替えや調整を必要とせず、 高精度測定を実現しています。 ■乾式測定:電磁フィーダ自然落下、または、圧縮空気により凝集粒子を分散して測定。 ■湿式測定:水系/有機溶媒系に対応可。ファイバー状粒子の長径、短径、そのアスペクト比評価に。 ■CAMSIZERは、ふるい分けによる測定と高いデータ一致性があります。 お気軽にお問い合わせください。 資料プレゼントキャンペーン期間:~2021/05/23

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Quasor II EBSD System

EBSDデータおよびEDS/WDSスペクトルイメージの同時収集が容易に行える!電子線後方散乱回折解析装置のご紹介

『Quasor II EBSD System』は、EBSDデータおよびEDS/WDSスペクトル イメージの同時収集が容易に行える電子線後方散乱回折解析装置です。 走査型電子顕微鏡(SEM)およびマイクロアナリシス分析によって観察される 幅広い材料の物理特性に影響を与える結晶構造を特性評価します。 1回の測定でサンプルの構造情報も化学的情報も得ることができます。 【特長】 ■インデックスされた99%のピクセルで最大600フレーム/秒の収集速度 ■1回の測定でサンプルの構造情報も化学的情報も得られる ■減算または除算によるバックグラウンド除去 ■イメージクロップ ■FFTまたは放物線でのフラットフィールディング ※製品の詳細については、直接お問い合わせください。

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OLE

OLE

VNIR 400-1000nm

  • レンズ
  • 画像処理機器
  • その他画像関連機器
  • 解析装置

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エクソソームの粒子径・濃度測定におけるスタンダード

エクソソーム/マイクロベシクルの粒子径・濃度測定における国際標準機

NanoSight(ナノサイト)はNTA(Nanoparticle Tracking Analysis)技術 により、液中のナノ粒子のブラウン運動の様子をPC画面上で、リアルタイム に観察することができます。昨今では、エクソソーム研究において、Nano- Sightがもつ、その独自の特長と技術により、エクソソームの検出や粒子個 数のカウントを行うことにより新たな知見を導き出しております。 ■独自の計測技術 ”Nanoparticle Tracking Analysis(NTA)” を採用 各粒子のブラウン運動量をもとに粒子径を算出するNanoSight社独自の測定手法 ■個々のナノ粒子/エクソソームを計測 散乱光強度の揺らぎから得られる平均化された粒子径ではなく、個々の粒子の粒子径を計測・表示 ■粒子散乱光を目視観察 液中のナノ粒子のブラウン運動の様子をPC画面上で、リアルタイムに観察可能 ■屈折率・反射率情報不要 新規開発材料、表面コーティング物質、生体材料など表面物性データが不明なサンプルも精度良く測定

  • 細胞解析ソフトウェア
  • 解析装置

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SwitchSENSE高感度分子間相互作用解析装置 heliX+

DNAを固定化ツールに使用したSwichSENSE原理による高感度バイオセンサー

heliX/heliX+は、DNAナノレバーを固定化ツールに使用した“SwitchSENSE”という新しい原理を採用した高感度の分子間相互作用/タンパク質物性解析装置です。 既存のバイオセンサーの約100倍の感度を持ち、従来の装置では測定の難しい高親和性の相互作用解析、二重特異性の相互作用解析、また核酸関連酵素の酵素カイネティクス解析など幅広いアプリケーションと解析性能を持っています。またチップは繰り返し再利用が可能。DNAを固定化に使用しているため2種類の分子の固定化など自由度高く分子をチップ上に提示できます。固定化マトリックスの影響などもありません。 さらに核酸を用いたセンサーであることにより、ポリメラーゼやエンドヌクレアーゼといった核酸関連酵素の酵素カイネティクス解析を簡単に実施でき、ウイルス増殖の阻害剤評価にも威力を発揮します。 装置のモジュール化により、容易にハイスループット化も可能。創薬研究から生体分子の生物物理学的基礎研究まで幅広い研究に活用できます。

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EHS-BTM STANAG7221 バスモニター日本語資料

【日本語版】EHS-BTM データシート

EHS-BTMは、STANAG722データ通信システムの通信解析環境を提供します。 EHS-BTMは、通信に影響を与えることなく、他のSTANAG7221対応ターミナル間の通信情報を記録します。また、記録したログを事後解析できます。

  • 通信関連
  • 解析装置

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【無料進呈】内部構造を伴う現物の3D画像を効果的に展示する新技術

【論文集 無料進呈】3D画像解析丸分かり!14本の論文を60Pに凝縮 業界20年の老舗の英知 X線CT/画像解析/三次元/受託

◆収録論文 1.三次元画像処理のためのソフトウェア技術の実際 2.マイクロCT 3.X線CTによる樹脂成形品中のガラス繊維の観察と三次元解析 4.X線CTによるメタリック射出成形品の配向挙動解析 5.高分解能X線CTによる厚肉球状黒鉛鋳鉄の三次元組織観察 6.X線CTとExFact VR 2.0による鋳造品の内部品質評価 7.セメントコンクリート舗装の三次元損傷診断 8.三次元空隙ネットワーク解析によるリチウムイオン電池電極の評価法の開発 9.三次元画像からの粒径分布の抽出による水素吸蔵合金充填層の粒子偏析現象に関する検討 10.CT値ヒストグラムに基づく複合材料の大局的構造評価法の検討 11.実物の内部構造3Dデータを用いた透明可視化模型の製作と評価 12.内部構造を伴う現物の3D画像を効果的に展示する新技術 13.偏光イメージングのための多角的撮像システムの樹脂成形品評価への応用樹脂成形品の品質可視化に向けて(特集 計測・測定・検査・分析の最新動向) 14.成果志向のAIIT PBLの運営戦術 2015年度 村越PTの活動から

  • 受託解析
  • 画像解析ソフト
  • 画像処理ソフト
  • 解析装置

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光ビーム計測・解析装置『M-Scope type HS』

【※デモ測定対応可能】ビーム形状の出射方向の変化を測定することもできます。

『M-Scope type HS』は、1~10Wクラス高出力レーザのNFP・ 発光ビームプロファイル計測用光学系です。 計測対象サンプルから出射された光束は、対物レンズを通過後、 2段ビームサンプラーにて約99.99%程度に減光、結像レンズにて 2次元画像検出器に結像する方式を採用しています。 これにより、さまざまな対物レンズ倍率下で高出力レーザの 発光ビームプロファイル・ビーム形状を正確に計測することができます。 【特長】 ■ビームサンプラー(対物レンズ後方2段)と減光フィルタの組合せにより 高出力レーザのパワーを測定可能な適正レベルまで減衰 ■さまざまな対物レンズ倍率の選択が可能 (M-Plan Apo NIR、M-Plan Apo NUVシリーズ各種対物レンズ) ■コリメート光計測が可能(対物レンズ無装着状態) ■同軸落射照明ポートを標準装備。同軸落射照明装置(オプション)との  組合せで顕微鏡画像観察・実像による位置合わせが可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他計測・記録・測定器
  • その他電子計測器
  • その他解析
  • 解析装置

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レジスト現像アナライザ RDAリシーズ

フォトレジスト現像速度解析評価装置

レジスト現像アナライザRDAシリーズは、フォトレジストの現像速度測定、コントラストカーブ、感度の算出などの現像特性解析が迅速に行えます。また、リソグラフィシミュレータに必要なレジストモデリングパラメータを正確に決定することができます。

  • その他プロセス制御
  • 分析機器・装置
  • 解析装置

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急速眼球運動解析装置『EyeLink II』

ヘッドマウントタイプのアイトラッキングシステム

Eyelinkは両眼同時500Hzでのデータ取り込みをおこなうアイトラッキングシステムです。 頭部運動の補正機能、ヘッドマウントのスリップ補正機能により長時間安定したデータ取り込みが可能です。 【主な特長】 ■出力データ サンプルデータ(視線位置X,Y座標/瞳孔径) イベントデータ(反応時間/サッケード、注視、瞬きの開始、終了時間) ■リアルタイムフィードバック(付属のEyeLink用API使用時) サッケード、注視、瞬きのイベント出力。オプションのボタンボックスで反応時間の計測対応 ■簡単セットアップ 瞳孔重心を即座に認識できるので、ストレス無く計測を開始することができます。 ■キャリブレーション&バリデーション キャリブレーションとバリデーションにはEyeLink独自の注視状況評価技術が組み込まれているので、 長時間の計測においても高精度を保持し、データを取り込むことができます。

  • その他計測・記録・測定器
  • 解析装置

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急速眼球運動解析装置『EyeLink MRI/MEG』

磁場の影響を受けず, 高速サンプリングレートが可能に

EyeLink fMRI/MEG は磁場の影響を受けず, 高速サンプリングレートで眼球運動情報を取り込みます。 MRIではアイカメラをボア内もしくはボア入り口付近に設置することができます。 MEGではアイカメラを刺激呈示用スクリーンの手前に設置します。三脚に取り付けることも可能です。 MRI/MEG環境で世界最速のサンプリングを実現しました。 1000Hz(オプションで2000Hzまで対応)のサンプリングはサッケードを的確に捉えることが可能です。

  • その他計測・記録・測定器
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歩行解析装置『Zeno Walkwayシステム』

センサーシートを使った時間、空間、圧力データの収集

Zeno Walkwayは、静的および動的バランスと歩行時の圧力データを検出する歩行解析システムです。 3層のフレームワークにより、センサの損傷、エッジのカールを低減し、スムーズな移動を実現しました。 シートの長さに応じて18,432~46,080のセンサーが内蔵されています。 直立、歩行、ランニング、歩行器・歩行補助杖を使用した解析などが行えます。 Zeno Walkwayシステムは、保護基材、圧力センサーシート、保護トップのシート、3つのレイヤーで構成されているため ポータブル性を保ちながら高い耐久性を持ち合わせています。

  • その他計測・記録・測定器
  • 解析装置

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動的画像解析式装置『Litesizer DIAシリーズ』

各粒子を個別に測定し、粒子形状情報を取得!わずかな異常粒子を迅速に検出できる

『Litesizer DIAシリーズ』は、ボタン1つの簡単操作の動的画像 解析式装置です。 当装置は、動的画像解析法を用いて0.5μmから16、000μmの粒子を 簡単かつ確実に評価することが可能。 また、3種類の分散ユニット(湿式、乾式ドライジェット、乾式自由落下) は ホースやケーブルを繋ぎ直す必要がなく、簡単に切り替えができます。 【特長】 ■制御ソフトにより、さまざまな重要な情報が1画面に集約表示 ■分散媒の注水、排水、洗浄、乾燥サンプルの供給速度の設定に  自動化機能を活用 ■有害なサンプルの拡散・飛散や装置の損傷を防ぐ機能により  安全性を最大限に確保 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

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介在物自動解析装置 Metal Quality Analyzer

介在物の検出からサイズ計測、元素分析、レポートの作成までを完全自動化します。

=========================================== 本製品のお問い合わせは、下記当社WEBサイトよりお願い致します。 https://www.kbk.co.jp/ja =========================================== 介在物自動解析装置Metal Quality Analyzer (MQA)は、鉄鋼の製造過程(炉、精錬、鋳造、ビレット)または最終製品において含まれる不純物である介在物の検出、寸法計測、元素解析から、レポート化までを完全自動で行なう介在物自動分析装置です。

  • 電子顕微鏡
  • 解析装置

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OIM Data Copllection

EBSP測定ハード/ソフト

木材は、その木目の方向によって強度が著しく異なります。 実は日常的に使用される鉄鋼材料をはじめ多くの金属材料でもこのような異方性を持つことが多々あります。また、結晶粒の大きさやその分布で強度が変わることも知られています。 この材料の組織構造がどうなっているのかを、その材料を作っている結晶の方位という点に着目して解析する装置がOIM (Orientation Imaging Microscopy) です。

  • その他計測・記録・測定器
  • 解析装置

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高周波電磁波解析装置キット【eHFE59B】

プロ仕様の測定器セットがこの値段で!高周波測定器キット

幅広い専門的高周波測定が可能!ドイツ建築生物学(バウビオロギー)協会認定 環境測定士の間でポピュラーな最高級高周波測定器キット ■□■特徴■□■ ■ハイグレード指向性対数周期アンテナ、超広帯域アンテナ「UBB27」と 増幅器、減衰器、ハイパスフィルターの付属品をセットにした 最高級高周波解析装置キット ■eHF59B800MHz〜3000MHzまでの偏波で伝播する高周波電磁波を正確に 測定可能な対数周期アンテナ付高周波電磁波解析装置 ■eHF59B27MHz〜3000MHzまでの高周波電磁波を正確に測定可能な 超広帯域「UBB27」アンテナ付高周波電磁波解析装置 ■詳細は、お問い合わせ下さい。

  • 電圧計
  • 解析装置

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アイテス 装置一覧

アイテスの解析・評価・試験サービスに使用する装置一覧です

アイテスは、最先端産業分野でお客様の課題に真摯に取り組む 解決提案型企業です。 各種保有装置を駆使し、最適なソリューションを提供します。 ■製品解析/不良解析/故障解析  形態観察・電気特性測定・不良解析・故障解析・試料加工 ■信頼性評価試験  信頼性評価試験・ESD/ラッチアップ試験・強度試験・光学特性 ■物理解析/化学分析  物理解析・表面分析・化学分析

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接合・接着・実装部の不良解析をはじめとした解析技術のあり方

分析・解析技術をどのような観点から進めるべきかをご紹介!

当社では、電子部品ばかりではなく無機・有機素材をはじめ、多くの製品、 部品、素材を故障・不良解析、構造解析、良品解析、信頼性評価といった面で お客様の課題・問題解決に向けてサポートしています。 当資料は、分析・解析技術をどのような観点から進めるべきかをご紹介。 お客様にとっても問題解決の端緒と紐解きの一助となれば幸いです。 【掲載内容】 ■はじめに ■接合のイメージと当社の評価・解析技術の位置付け ■不具合要因 ■手法 ■終わりに ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他解析
  • 解析装置

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発熱解析による電子部品の故障箇所特定

故障箇所特定から内部観察までを非破壊で実施する事が可能!高精度な発熱箇所の特定ができます

発熱解析は、電圧印加によってリーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで 検出する事で不良箇所を特定する手法です。 ショートやリークに伴う微弱な発熱を高感度InSbカメラで検出する事で 半導体等の電子部品の故障部を非破壊で特定する事が可能。 更にX線検査装置を用いる事で非破壊での観察もできます。 【特長】 ■リーク箇所に発生する熱を高感度InSbカメラで検出する事で不良箇所を特定 ■サンプルを非破壊の状態で解析したり、OBIRCHやエミッションでは  解析が難しい電子部品を解析する事も可能 ■ロックイン機能を使用し、位相情報を取得する事で、高精度な発熱箇所の  特定が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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ロックイン発熱解析装置『ELITE』

「熱拡散によって発熱中心が分からなくなる」ことを防ぐ!微小なリーク・変化でも検出が可能

発熱解析とは、通電によって異常箇所を発熱させ、その発熱部位を 高感度赤外線カメラで観察することで、実装基板、電子部品内部、 半導体チップ内部の異常箇所を特定する手法です。 非常に微小な発熱状態を検知できることから、通常のプリント基板だけでなく、 半導体の不具合解析にもその威力を発揮します。 特にショート箇所の調査においては、複雑な構造であっても短時間で場所の 特定が出来るため、不具合解析の時間を劇的に短縮することができます。     【特長】 ■非破壊で不良解析ができ、サンプル加工などによる故障箇所喪失リスクがない ■半導体単体から、モジュール、実装基板など幅広い製品の観察が可能 ■従来のマニュアル検査に比較して不良特定率が向上 ■赤外線強度データと位相データの解析により、不良部位のXYZ位置特定が可能 ※詳しくは関連リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • 食品試験/分析/測定機器
  • 解析装置

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解析技術:静電気破壊

SiC-MOSFET/ロックイン発熱解析/プラズマFIBの活用!IR-OBIRCHで故障箇所を特定

当社で行った「静電気破壊」の故障解析をご紹介いたします。 破壊したサンプルの外観観察、及び非破壊検査においては異常は確認 されず、このことから、故障規模が微小であることを推察。レーザーと 薬液開封によりSiCチップを露出し、LITによる発熱解析を行うことで 微小な故障箇所を絞り込みました。 アルミ電極を除去後にIR-OBIRCHで故障箇所を特定し、プラズマFIB装置を 用いてSiCチップの断面図を解析した結果、故障したセルのトレンチゲート 左側の酸化膜が破壊している様子が確認されました。 【概要】 ■故障箇所特定 ・レーザーと薬液開封によりSiCチップを露出し、LITによる発熱解析を  行うことで微小な故障箇所を絞り込んだ ■故障箇所の詳細解析 ・アルミ電極を除去後にIR-OBIRCHで故障箇所を特定し、プラズマFIB装置を  用いてSiCチップの断面図を解析 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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【分析事例】パッケージ品のロックイン発熱解析

Si系パワーダイオードのリーク箇所非破壊分析

ロックイン発熱解析において、ホットスポットを絞るためには周波数を上げることが望ましいですが、一方で感度が悪くなってしまうという問題があります。そこで、高周波数側から低周波数側に測定条件を振っていき、発熱信号が得られ始める周波数を見際めることが重要となります。 本事例では円筒状のパッケージ品において、リーク電流に伴う発熱箇所を非破壊で特定した事例をご紹介します。このように液晶法では難しい立体構造の試料でも発熱箇所の特定を行うことが可能です。

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【活用事例】 機械診断

Machine Diagnostics

Due to production and assembling tolerances, wear and load variation, the moving parts in any rotating machine will sooner or later cause annoying vibrations that eventually lead to breakdowns. Machine Diagnostics is the PULSE configuration containing the basic tools addressing vibration problems in rotating machines. 詳しくはお問い合わせください。

  • その他ネットワークツール
  • その他情報システム
  • 解析装置

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自動スペクトラムクリアランス

LTEおよび5Gモバイルネットワークでの自動スペクトラムクリアランス

5G NRのTDDネットワークの全世界での配備は、未知の無線環境で行われる ことになります。 探索は従来どおりの手動で行われますが、ネットワークが動作し始める前には、 干渉信号の自動検出が役立ちます。 潜在的な干渉信号とその特性を、手動技法を使用した場合よりもはるかに 高速に特定できるなどの利点があります。 【3つの利点】 ■潜在的な干渉信号とその特性を、手動技法を使用した場合よりもはるかに  高速に特定できる ■データの収集とデータの解析が別々に行われるため、  時間のかかる作業であるデータ収集を、比較的スキルの低い担当者が  はるかに短時間で実行できる ■干渉探索チームの専門家はあらかじめ特定された干渉個所に  集中すればよいので、効率が上がる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

  • その他セキュリティ
  • その他情報システム
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【資料】電源制御ループ応答測定(ボード線図プロット)

電源制御ループ応答測定について!注入ポイントとプロービングなどを掲載

オシロスコープは、今日、エンジニアが電源の設計を試験/評価するための 主要な測定ツールです。 「R&S RTx-K36 周波数応答解析(ボード線図)オプション」を 加えることで、低周波ネットワーク・アナライザまたは専用の スタンドアロン周波数アナライザに代わる低コストのツールとして 利用することもできるようになります。 当資料は、「注入ポイントとプロービング」をはじめ 「デバイス設定」や「測定結果」などについて詳しく掲載しています。 【掲載内容】 ■課題 ■ローデ・シュワルツのソリューション ■測定セットアップ ■まとめ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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行動解析装置『SCANET-40シリーズ』

発売から20年以上、多くの研究室で使われており、論文も多数発表されています!

『SCANET-40シリーズ』は、高密度に配置した赤外線センサーを用いてマウス・ラットの行動解析を行う装置です。 1台の装置で、自発運動量、薬物依存作用や抗不安、学習記憶テスト、抗うつスクリーニングテスト、 恐怖条件付け実験など10個以上の実験モードに対応。 実験毎に測定装置を買い揃える必要がありません。 【特長】 ■高密度に配置した赤外線センサーを用いてマウス・ラットの行動解析を行う ■1台の装置で、10個以上の実験モードに対応 ■実験毎に測定装置を買い揃える必要がない ■各種実験に応じたモードをご用意 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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社会的敗北ストレス試験 SDSモード

海外でも広く用いられている社会的敗北ストレスによる社会性行動試験を行うためのモード

SDS(ソーシャルディフィートストレス)モードは、行動解析装置SCANETに 新たに登場したモードです。 うつ病のモデル実験として、海外でも広く用いられている社会的 敗北ストレスによる社会性行動試験を行うための装置。 社会的敗北ストレス試験では、マウスをより大きなマウスのいるケージで 共存させることにより、社会的回避(引きこもり)や快感消失などの抑うつ 関連行動をおこさせ、大きなマウスからストレスを与えられた後のマウスの 行動を測定します。 【システム構成】 ■SCANET MV-40(SDSモード付) ■ソフトウェア(専用ノートPC付) ■ケージ(組立式ケージ、SDS用ケージ) ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

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生体分子間相互作用解析装置「QCMセンサーシステム」

生命科学・食品化学・環境科学等の分野における特定分子のセンシングに応用可能

QCMセンサーシステム(Quartz Crystal Microbalance:水晶振動子微小秤量装置)は、水晶振動子の圧電効果を利用したバイオセンシングシステムです。 生命科学・食品化学・環境科学などの分野における特定分子のセンシングに応用できます。 QCMセンサー上で生じる微小な質量変化をピコグラムオーダーで測定することができます。 【特徴】 ○動的解析が可能 →他の方法(SPR・ELISAなど)は結合が終わった後の結果しか判らない →動的解析が可能であると、結合定数、解離定数、阻害定数、結合速度などの  生体分子の性質を解析することが可能 詳しくはお問い合わせ、またはカタログをダウンロードしてください。

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