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ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView x30

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ZetaView x30 シリーズ

最終更新日:2025年05月22日

DKSHマーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社 テクノロジー事業部門
DKSHマーケットエクスパンションサービスジャパン株式会社 テクノロジー事業部門
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ナノ粒子の粒度分布・ゼータ電位測定・蛍光による粒子の同定 セル内11か所をスキャンする高速測定

ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView x30シリーズは、ブラウン運動するエクソソームやリポソームといったナノ粒子を動画撮影することにより、個々の粒子のサイズ、粒子濃度を解析できます。最大4波長のレーザーを搭載可能。高速のレーザー/フィルター切り替えにより、蛍光の退色を抑え、蛍光標識粒子の粒度分布を正確に決定します。 また新機能としてColocalization (共局在測定)オプションにより、二重染色した粒子の比率を決定可能です。 【特長】 ■最大11ヶ所をスキャン測定 ■オートアライメント・オートフォーカス機能 ■最大4レーザー搭載で、様々な蛍光標識を使用して粒度分布測定可能 ■ゼータ電位測定が可能

    光学測定器その他 分析・解析
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ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView x30

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基本情報

【仕様】 ■粒子/濃度 ・粒子濃度範囲:10^5~10^9 個 /ml ・粒子径測定範囲:20nm~1000nm(サンプルおよび使用レーザーによる) ・確度と再現性:確度:±5 nm(100nmポリスチレン粒子において)         再現性:±2nm(100nmポリスチレン粒子において) ■ゼータ電位 ・粒子測定範囲:-500mV~+500mV ・粒子濃度範囲:10^6~10^10 個/ml ・粒子径範囲:20nm~5000nm(サンプルおよび使用レーザーによる) ・電気伝導度:3μS/cm~15mS/cm ・確度と再現性:確度:±4mV(アルミナ標準粒子において)         再現性:±2mV(アルミナ標準粒子において) ■カメラ:高感度CMOS カメラ640×480pixels ■最小サンプル量:500μl(10^5個/mlにおいて) ■電源環境:90-240V,47-63Hz,50VA ■寸法(W×D×H)重量:20×30×25cm 8.5kg

価格帯

1000万円 ~ 5000万円

納期

詳細はお問い合わせください

用途/実績例

・エクソソームの粒度分布測定・粒子濃度・ゼータ電位測定 ・蛍光標識により特定のエクソソームの分布や比率を評価 ・ファインバブル・ナノバブルの粒度分布・バブル濃度の評価 ・その他各種ナノ粒子の粒度分布・粒子個数濃度の決定

ラインアップ(3)

型番 概要
ZetaView Mono
ZetaView Twin
ZetaView Quatt

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ナノ粒子トラッキング解析(NTA)装置 ZetaView

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この製品に関するニュース(1)

[DKSHジャパン株式会社] 第1回 ファーマラボEXPOに出展致します。

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DKSHジャパン株式会社 テクノロジー事業部門は、第1回 ファーマラボEXPO(PharmaLab JAPAN 2019)に出展します。 製剤研究・医薬・ライフサイエンス分野の分析・評価機器を各種を展示いたします。 【小間番号】 ■A21-13 【出展製品】 ■粒子トラッキング解析装置 Zetaview NEW! ■核酸を用いた高感度分子間相互作用解析装置 DRX NEW! ■フローイメージング粒子画像解析装置 FlowCam ■ハイスループット全自動微量粘度計 VROC Initium NEW! ■超微量サンプル粘度計 m-VROC 皆さまのご来場、心よりお待ちしております。

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