アストロンの製品・サービス一覧

『AZSA-AR/HS』は、迅速にかつ正確に欠陥箇所を特定できる 新たなCADナビゲーションシステムです。 電子顕微鏡像とCADデータを重ねて表示する事による下層配線の確認と 加工時間のスループットの向上が可能。 また、Windows上で手軽な操作が可能なほか、装置間で故障候補位置等、 情報の共有ができます。 【特長】 ■大規模データの直接入力、表示が可能 ■GDSII、OASISフォーマットに対応 ■様々な装置とのリンクが可能 ■断面、3D表示が可能 ■電子顕微鏡や各種解析装置と連動 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• その他CAD関連ソフト

『SEM3D』は、複数SEM像から立体的な3Dイメージの構築、 任意の断面切り出し、内部構造の3Dオブジェクトの表示が行なえる SEM像3D/断面表示ソフトウエアです。 当ソフトウエアにより3D構築したデータは、専用ソフトでしか見ることが できないので、解析依頼元に安心してデータを渡す事が可能です。 また、他社ツールにて位置合わせしたデータもパッキングソフトで3D構築が 可能です。 【特長】 ■故障解析を強力に支援 ■複数SEM像から立体的な3Dイメージの構築 ■任意の断面切り出し、内部構造の3Dオブジェクトの表示が可能 ■解析依頼元に安心してデータを渡す事が可能 ■他社ツールにて位置合わせしたデータもパッキングソフトで3D構築が可能 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 画像解析ソフト

『SView・SView-PC』は、大規模GDS2ストリームデータを高速に 表示して手軽に確認ができるレイアウトビューアです。 DRCで発生した擬似エラーの内容確認が容易にでき、実エラーか 否かを判断できます。 また、使用頻度の高いレイアウト設計CADプログラムを使用せずに、 レイアウトデータの内容確認作業が単独でしかも容易にできるため、 設計CADプログラムの使用効率が高まります。 【特長】 ■既存のレイアウトデータの内容確認がすぐできる ■必要なデータの発見が容易 ■GDS2ストリームデータの気になるポイントも直ちに確認が可能 ■DRCで発生した擬似エラーの内容確認が容易にできる ■設計CADプログラムの使用効率が高まる ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ソフトウェア（ミドル・ドライバ・セキュリティ等）

故障解析を強力に支援！　SEM像3D/断面表示ソフトウェアが誕生致しました。

• 3次元CAD
• レンダリングソフト

EMS画像データを使って、作業者のデスク上で解析できるオフライン解析ソフトです。

• その他CAD関連ソフト

迅速かつ正確に欠陥箇所を特定できる国産CADナビゲーションシステムが誕生致しました。

• その他CAD関連ソフト

繰返しパターンのカウントを強力支援！ セルカウンティングソフトウェアが誕生致しました。

• 画像解析ソフト

Nealsでは、GDSからネットリストの生成を行い、回路を配置配線し、 回路とレイアウトのXprobeを取ることが出来るシステムです。

• その他CAD

DvoguePCはDXFフォーマットデータをGDSIIストリームデータに変換するプログラムです。

• その他CAD
• データ変換ソフト

大規模GDSIIストリームデータを高速に表示して手軽に確認が出来るレイアウトビューアです。

• レンダリングソフト
• その他CAD

株式会社アストロンのLEF/DEFエディター開発実績をご紹介します。

• 基板設計・製造

株式会社アストロンのプログラム開発実績をご紹介します。

• データベース
• 画像解析ソフト

株式会社アストロンの半導体業界向けプログラムの開発実績をご紹介します。

• 基板設計・製造
• 受託解析

使用頻度の高いレイアウト設計CADプログラムを使用せずに、確認作業が行え、マスクデータ検証時に従来プロッター出力していたものを身近にあるPCマシン上で確認ができる為、プロセス⇔設計間のペーパレス化が可能です。会議にて使用するドキュメントの作成、又はノートパソコンにてプレゼンする際にも大変効果的です。また、オプション機能として、ExclusiveOR表示機能、配線トレース機能、DRCインタフェース機能があり、ストリームデータの差分、配線ルート、エラーデータの確認作業が容易に行えます。液晶パネル、画素の形状やマーク類などの図面確認（検図）にも最適です。 メモリ使用量は入力データ以下とし、PC上で最大1.5G（GDSデータ）までのデータ検証を可能としました。弊社ホームページより評価版のダウンロードが可能。

• 半導体検査/試験装置
• その他CAD
• その他解析

使用頻度の高いレイアウト設計CADプログラムを使用せずに、確認作業が行え、マスクデータ検証時に従来プロッター出力していたものを身近にあるPCマシン上で確認ができる為、プロセス⇔設計間のペーパレス化が可能です。会議にて使用するドキュメントの作成、又はノートパソコンにてプレゼンする際にも大変効果的です。また、オプション機能として、ExclusiveOR表示機能、配線トレース機能、DRCインタフェース機能があり、ストリームデータの差分、配線ルート、エラーデータの確認作業が容易に行えます。液晶パネル、画素の形状やマーク類などの図面確認（検図）にも最適です。 メモリ使用量は入力データ以下とし、PC上で最大1.5G（GDSデータ）までのデータ検証を可能としました。弊社ホームページより評価版のダウンロードが可能です。

• 半導体検査/試験装置
• その他CAD
• その他解析