LSI故障解析用観察・リペア装置と設計CADデータとを密接にリンク
迅速かつ正確に欠陥箇所を特定できる国産CADナビゲーションシステムが誕生致しました。
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基本情報
【特徴】 ◯LSI故障解析用観察・リペア装置と設計CADデータとのステージ連動 ◯SEM/SIM像と設計CADデータとの重ね合わせ表示（オーバーレイ表示） ◯データロケータ機能、等電位ノードトレース機能のほか、豊富なオプション機能を搭載 ●詳しくはお問い合わせ、またはカタログをご覧ください。
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企業情報
ソフトウエアの受託開発(半導体分野、画像処理分野、IoT分野)および製品販売/カスタマイズを行っています。 〇半導体分野 設立から携わってきたから半導体のEDA分野におけるソフトウエアツールの開発(設計ツール、テスト関連インタフェース、故障解析ツール)、お客様のオリエンテッドな受託開発ならびに独自製品の開発・販売を広範囲にサービス提供をしております。 〇画像処理分野 外観検査(製造業向け・鋳造、異物や欠陥検出、測定等)や工場内装置の監視、インフラなど様々な分野のアプリケーション開発を行っています。また、撮像制御からGUI開発、機器の制御など幅広いソフトウェア受託開発しています。 〇IoT分野 IoT環境の構築、運用にあった製品やサービスのご提案と自社技術者によるオーダーメイド開発を行っています。 また、市販品を組み合わせたドライバ/ファームウェア開発、Webシステム、クラウドと連携したIoTシステムを一貫して開発しています。 〇製品販売/カスタマイズ LSI設計支援CAD、テスト支援CAT、インターフェースプログラム開発の経験を活かした製品を開発/販売しています。