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表面粒子測定器 QIII / Pentagon
半導体製造装置のウェットクリーニング後、 チャンバー表面が本当にクリーンになったかどうかの確認に最適な表面粒子測定器です。 従来の表面粒子測定法と比較し、QIII Maxを使用する事で大幅な時間短縮・コスト削減を行う事が可能です。