電子部品・半導体

STAr Technologies, Inc. STAr Technologies, Inc.

設立2000/08/29
住所台湾（全域）4F., No.158, Gongdao 5th Rd. Sec. 2, Hsinchu City 300, Taiwan. (R.O.C.)
電話+886-3-5717179
最終更新日：
STAr Technologies, Inc.ロゴ

STAr Technologies, Inc.の製品・サービス一覧

1～5 件を表示 ／ 全 5 件

表示件数

自動テストシステムシステム

半導体テスト アーキテクツ

Mixed-Signal Test, Power Device Test

  • その他半導体

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録

信頼性テストシステム

半導体テスト アーキテクツ

Semicondcutor Reliability Test, Advanced Device Reliability, Power Device Reliability

  • その他半導体

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録

パラメトリックテストシステム

半導体テスト アーキテクツ

Semiconductor Parametric Instrument, Parametric Switch Matrix, Integrated Test System

  • その他半導体

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録

ウェーハソート用プローブカード

半導体テスト アーキテクツt

SOC IC Test, LCD Driver IC Test, Memory IC Test

  • その他半導体

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録

パラメトリックプローブカード

半導体テスト アーキテクツ

Semiconductor Parametric Test, Reliability Test, Multi-Site/Die Test

  • その他半導体

ブックマークに追加いたしました

ブックマーク一覧

ブックマークを削除いたしました

ブックマーク一覧

これ以上ブックマークできません

会員登録すると、ブックマークできる件数が増えて、ラベルをつけて整理することもできます

無料会員登録