半導体テスト アーキテクツ
Semiconductor Parametric Test, Reliability Test, Multi-Site/Die Test
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基本情報
STAr's Virgo series of high performance parametric probe cards enable low-level leakage current and capacitance testing with consistent results and high accuracies under extreme thermal conditions on small pads used in nanometer technologies.
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用途／実績例
Semiconductor Parametric Test, Reliability Test, Multi-Site/Die Test
企業情報
スターテクノロジーズ株式会社はアジレント・テクノロジー株式会社のチャンネル／ソリューション・パートナーであり、半導体試験システム、半導体業界向けのソフトウエアやプロフェッショナルなサービスを提供している。 スターテクノロジーズ社は2000年に設立され、台湾の新竹市に本社を置き、米国、日本、韓国、中国、インド、シンガポールの子会社をもつ。