ユアサエレクトロニクスの製品・サービス一覧

『LDS-9000 シリーズ』は、各種形状LDの評価を、高精度で連続的に 処理する機能を持つエージング装置です。 ホストコンピュータ、恒温槽、制御計測ターミナル、及び駆動用ドライバで 構成されており、計測ターミナルには演算プロセッサを搭載し高速に データを計測。 計測はホストコンピュータから駆動、時間、温度、計測等の条件を 槽単位及びDUTボード単位に設定可能です。 【特長】 ■試験中にデバイスのI-L、V、Im特性曲線の計測が可能 ■光出力の自動較正機能により、光出力のOFFSET調整とGAIN調整は自動 ■光出力測定用PD及びLD駆動ドライバは、安定な動作及び高信頼性が保証 ■停電あるいは突然の電源ライン停止によるLDへの影響に対して、 　スローダウン、スローアップ回路やプロテクト回路が働き、LDを完全に保護 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 試験機器・装置

『YC2000 シリーズ』は、ACC、APC駆動のみではなく、LIV測定も 行うことが可能な高出力LDエージング装置です。 各素子への温度制御はペルチェ制御方式とし、素子毎に対する 温度制御安定性を確保。試験条件はユニットごとに設定が可能なため、 複数水準での試験を並行して行うことができます。 長期高温動作寿命、温度サイクル動作、温度特性（ステップ、勾配）等、 一連の特性試験を高分解能にて計測いたします。 【特長】 ■赤色、青色の高出力レーザダイオード用の信頼性評価装置 ■複数水準での試験を並行して行うことが可能 ■ACC、APC駆動のみではなく、LIV測定も行うことが可能 ■素子形状に合わせ、テスト治具の設計対応 ■長期高温動作寿命、温度サイクル動作、温度特性（ステップ、勾配）等、 　一連の特性試験を高分解能にて計測 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• 試験機器・装置

『PLマッピング装置』は、LED/LD生産のための2,3,4インチウェハ のフォトルミネッセンスおよび膜厚マッピング測定を行う装置です。 自動XYステージ、オリジナルの多機能測定ソフトウェアにより 充実したマッピングが行えます。 また、ウェハ自動供給・収納機構の接続によりフルオートメーション化 が可能です。 【特長】 ■2,3,4インチウェハの測定が可能 ■オプションにより1/4切断ウェハの測定も可能 ■充実したマッピング ■フルオートメーション化可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ウエハー
• その他計測・記録・測定器

『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』は、透過光源による、高速、 高密度で蛍光体材料のマッピング評価を行うことができる装置です。 100×100mmエリア、もしくは最大4インチの測定が可能で、 オプションでLED光源（447.5nm標準）切り替えもできます。 また、角度依存性（直角45°）や透過率測定も可能です。 【特長】 ■最大4インチの測定が可能 ■オプションでLED光源切り替え可能 ■角度依存性の測定が可能 ■透過率測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。

• ウエハー
• その他計測・記録・測定器