測定範囲最大4インチ！高速、高密度でのマッピングが可能な装置
『蛍光体ウェハーマッピング装置 YB4』は、透過光源による、高速、 高密度で蛍光体材料のマッピング評価を行うことができる装置です。 100×100mmエリア、もしくは最大4インチの測定が可能で、 オプションでLED光源（447.5nm標準）切り替えもできます。 また、角度依存性（直角45°）や透過率測定も可能です。 【特長】 ■最大4インチの測定が可能 ■オプションでLED光源切り替え可能 ■角度依存性の測定が可能 ■透過率測定が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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基本情報
【本体仕様】 ■型式：YWafer Mapper YB4 ■測定範囲：最大φ4インチ、100×100mm ■マッピング間隔：0.04mm～ ※詳しくはPDFをダウンロードして頂くか、お気軽にお問い合わせ下さい。
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企業情報
ユアサエレクトロニクスは、オプトエレクトロニクス技術を支える 半導体レーザやLEDなどの光デバイス・コンポーネンツの開発・生産を支える システムを最新のテクノロジーをもって提供しています。 これからも新しい時代をリードするために現状に甘んずることなく常に変革に チャレンジし、当社の柱である光デバイススクリーニングシステムの研究開発 はもとより、国内外の優秀なベンチャー企業の育成に力を注ぎ、高品質、 高信頼性、高付加価値のシステムを開発して参ります。