【概要（抜粋）】 ＜校正：力（一軸）＞ ■登録に係る区分：力 ■登録に係る区分における初回認定年月日又は初回登録年月日：平成20年12月26日 ■校正手法の区分の呼称[登録年月日]：一軸試験機（平成27年9月8日） ■恒久的施設で行う校正/現地校正の別：現地校正 ＜校正：質量＞ ■登録に係る区分：質量 ■登録に係る区分における初回認定年月日又は初回登録年月日：平成20年12月26日 ■校正手法の区分の呼称[登録年月日]：分銅等、はかり（平成23年9月8日） ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【その他特長】 ■タッチスクリーンモニタは、振り子の角度、衝撃エネルギー、靭性、および他のパラメータを 　リアルタイムで表示することが可能 ■低温試験片試験に対応するための冷却システムを採用 ■-100までの温度設定が可能 ■試験後の飛散した試料の回収に電動装置を採用 ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【主な計測器の校正業務対応機器】 ■マイクロメータ ■マイクロメータ基準棒 ■ノギス ■デプスゲージ ■八イトゲージ ■ホールテスト ■キャリパーゲージ ■ダイヤルゲージ ■てこ式ダイヤルゲージ ■シリンダーゲージ　ほか ※詳しくは外部リンクページをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【JIS規格に基づく受託検証(試験機/計測器)】 ■ショッパー式引張試験機 ■ブリネル硬さ試験機 ■ビッカース(微小)硬さ試験機 ■シャルピー式衝撃試験機 ■その他の試験機 ■ノギス ■マイクロメータ ■ダイヤルゲージ ■その他、スモールツール

※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【主な計測器の校正業務対応機器（一部）】 ■マイクロメータ ■ノギス ■デプスゲージ ■ハイトゲージ ■ホールテスト ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。

【一般計測器】 ■機種(一部) ・マイクロメータ ・ノギス ・デプスゲージ ・ハイトゲージ ・ホールテスト ・キャリパーゲージ ・ダイヤルゲージ ※詳しくはPDF資料をご覧いただくか、お気軽にお問い合わせ下さい。