嶺光音電機の製品・サービス一覧

『ST-1322』は、POWER MOS FET Nch/PchのL負荷アバランシェ測定し、 GO/NG判定を行う装置です。 全ての試験項目は、ハードウェアにて処理解析していますので、従来の ディジタルオシロスコープを使用した装置に比べ高速に試験が可能。 上位コンピュータとオンラインで接続しデータの管理やテスト条件の 管理ができます。また、セルフテスト機能を有しております。 ご要望の際はお気軽にお問い合わせください。 【特長】 ■スピードを飛躍的に向上 ■低電圧にて、大電流試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器

『ST-2400』は、パワーデバイス用ダイナミックテスターとして研究開発や 信頼性試験、破壊耐量試験を安全に効率的に行う装置です。 一回のパルス印加で最大10個までの波形解析条件が設定でき、評価時間の短縮が可能。 試験を行うプログラムは、条件項目に必要なパラメータを入力するだけの簡単操作。 また、試験結果は、測定データ(CSV形式)、波形データは(CSV形式・JPG形式)にて 保存されますので、市販ソフト(Excel等)にて、グラフ化・一覧表化の作成が行えます。 【特長】 ■測定データと波形データの管理が容易 ■パワーデバイスの動特性試験の最高クラス ■パワーデバイスの製品開発時間短縮に好適 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器
• 半導体検査/試験装置

『ST-6527B』は、半導体の動特性を設定されたテスト条件に従って 測定をする装置です。 全ての試験項目は、ディジタルオシロスコープにて取り込んだ波形を 解析して、測定及び判定。シングル試験、スイープ試験、ループ試験他、 豊富な解析機能を備えております。 また、L負荷、R負荷、スナバコンデンサ、ダイオード、ゲート抵抗は、 プラグインタイプを使用し、様々なハードウエア設定を可能にしています。 【特長】 ■測定データと波形データの管理が容易 ■パワーデバイスの動特性試験に特化 ■高温(最大230℃)での試験が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他計測・記録・測定器
• 半導体検査/試験装置