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サーデアウ株式会社は、パワー半導体や放熱材料の熱特性を精密に 評価する測定装置を提供しています。 主な製品は、JEDEC規格準拠の過渡熱測定器「CXST」と、ASTM規格 準拠の熱伝導率測定装置「CXTIM」です。 「CXST」は、MOSFETやIGBT等のデバイス内部の熱抵抗や熱容量を解析し、 構造関数を用いた熱構造解析が可能。一方、「CXTIM」は熱伝導グリスや シート等の材料を対象に、実使用環境に近い加圧状態での熱抵抗を測定できます。 【過渡熱測定器(CXST)の特長】 ■JEDEC規格に準拠し、パワー半導体内部の熱特性を可視化 ■最大1MHzの高速サンプリングと0.01℃の温度分解能 ■「構造関数」の解析能力 ■チップからパッケージ、基板に至る放熱経路上の熱抵抗と熱容量を グラフ化し、放熱のボトルネックを特定 ■Webベースの制御システムを採用し、遠隔監視や直感的な操作が可能 ※詳しくはPDFをダウンロードしていただくか、お気軽にお問い合わせください。