Metrixの製品ラインアップ

Metrix株式会社は、eSPMを活用した受託評価・測定サービス、解析支援、 技術コンサルティングを通じて、研究開発・技術課題の解決を支援しています。 試料表面の局所的な電流分布を可視化し、リークパスや電気的な不均一性の 評価に活用する「導電性原子間力顕微鏡法(C-AFM)」を実施。 また、局所的な抵抗分布を評価し、半導体断面やデバイス内部の電気特性解析に 用いられる「走査型拡がり抵抗顕微鏡法(SSRM)」も行っております。 【サービス】 ■分析・評価手法別サービス ・導電性原子間力顕微鏡法(C-AFM) ・走査型拡がり抵抗顕微鏡法(SSRM) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。

• その他 分析・評価受託