Metrixの会社概要

高分解能×高感度×定量化！eSPMによる原子・ナノスケール電気特性評価

当社は、eSPM(Electrical Scanning Probe Microscopy)を中心とした 先端計測・解析技術により、半導体・電子デバイス・電池材料などを対象に、 C-AFM・SSRMをはじめとする受託測定・解析サービスを提供しています。 二次元ナノプロービングで新材料・新プロセス開発のボトルネックを解消し、 実用化を加速させます。 分析条件が固まっていない段階でも、まずはお気軽にお問い合わせください。 用途や課題を伺い、最適な計測プランをご提案します。