評価したい対象や取得したい情報に応じて、分析・評価手法別、または材料・デバイス別に受託測定・解析サービスをご案内
Metrix株式会社は、eSPMを活用した受託評価・測定サービス、解析支援、 技術コンサルティングを通じて、研究開発・技術課題の解決を支援しています。 試料表面の局所的な電流分布を可視化し、リークパスや電気的な不均一性の 評価に活用する「導電性原子間力顕微鏡法(C-AFM)」を実施。 また、局所的な抵抗分布を評価し、半導体断面やデバイス内部の電気特性解析に 用いられる「走査型拡がり抵抗顕微鏡法(SSRM)」も行っております。 【サービス】 ■分析・評価手法別サービス ・導電性原子間力顕微鏡法(C-AFM) ・走査型拡がり抵抗顕微鏡法(SSRM) ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
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基本情報
【材料・デバイス別サービス】 ■半導体 ・半導体・電子デバイスに対する局所電気特性評価や、デバイス内部の電流分布・抵抗分布の解析に対応 ■電池材料 ・電極材料や固体電解質界面など、電池材料・エネルギーデバイスに関する受託計測・解析サービスをご案内 ※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
価格帯
納期
用途／実績例
※詳しくは関連リンクをご覧いただくか、お気軽にお問い合わせください。
企業情報
当社は、eSPM(Electrical Scanning Probe Microscopy)を中心とした 先端計測・解析技術により、半導体・電子デバイス・電池材料などを対象に、 C-AFM・SSRMをはじめとする受託測定・解析サービスを提供しています。 二次元ナノプロービングで新材料・新プロセス開発のボトルネックを解消し、 実用化を加速させます。 分析条件が固まっていない段階でも、まずはお気軽にお問い合わせください。 用途や課題を伺い、最適な計測プランをご提案します。
